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龙图腾网获悉西安电子科技大学申请的专利基于有限观测数据的模拟残差确定方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115329592B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211054062.1，技术领域涉及：G06F30/20；该发明授权基于有限观测数据的模拟残差确定方法是由孙海峰;沈利荣;姚定凯;石永强;李连升;李小平;刘彦明;王子昆;郝运设计研发完成，并于2022-08-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于有限观测数据的模拟残差确定方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于有限观测数据的模拟残差确定方法，包括：脉冲星观测数据经过处理得到计时残差，计时残差包括时刻值和计时残差值；将计时残差值由大到小进行排列，对应的时刻值也进行排列；统计不同区间范围内样本计时残差值的数量，绘制样本计时残差值在不同区间内出现的频率分布图；确定频率分布所属于的概率统计分布模型；求取概率统计分布模型的具体参数；确定模拟残差值的数量；根据概率统计分布模型仿真得到模拟残差值，为模拟残差值设置对应时刻值，将模拟残差值添加到样本观测数据中。本发明根据得到的实际残差数据建立基于实际数据的概率统计模型，进而依据该模型仿真得到模拟残差值，更接近原始样本值，提高了脉冲星时的精度。

本发明授权基于有限观测数据的模拟残差确定方法在权利要求书中公布了：1.一种基于有限观测数据的模拟残差确定方法，其特征在于，包括以下步骤： S1，脉冲星观测数据经过处理得到计时残差，计时残差包括时刻值和计时残差值；将计时残差值由大到小进行排列，对应的时刻值也进行排列，计时残差值设为x1,x2,...,xn，对应的时刻值设为t1,t2,...,tn； S2，将[x1,xn]区间分为等间隔的小区间块，统计不同区间范围内样本计时残差值的数量，绘制样本计时残差值在不同区间内出现的频率分布图； S3，确定频率分布所属于的概率统计分布模型； S4，基于频率分布图中的计时残差值及残差的数量求取概率统计分布模型的具体参数，建立样本计时残差值的概率统计分布模型； S5，确定模拟残差值的数量；模拟残差值的数量为组成综合脉冲星时的各个脉冲星的残差数量的最小值； S6，根据概率统计分布模型仿真得到模拟残差值，为模拟残差值设置对应时刻值，将模拟残差值添加到样本观测数据中，模拟残差的时刻值与脉冲星观测数据的时刻值相对应。

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