长鑫存储技术有限公司骆晓东获国家专利权
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龙图腾网获悉长鑫存储技术有限公司申请的专利存储器的检测方法及检测装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115810388B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111085389.0，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权存储器的检测方法及检测装置是由骆晓东设计研发完成，并于2021-09-16向国家知识产权局提交的专利申请。
本存储器的检测方法及检测装置在说明书摘要公布了：本申请涉及一种存储器的检测方法及检测装置。所述存储器的检测方法包括如下步骤：写入数据至待测存储器，所述待测存储器包括存储单元、冗余单元和熔丝，所述熔丝用于采用所述冗余单元替换所述存储单元；调整所述待测存储器的温度，并在所述待测存储器的温度改变的过程中重复刷新所述待测存储器、以及重复录入所述熔丝的状态；判断所述待测存储器的温度是否稳定在预设温度，若是，则读取所述待测存储器的数据；判断读取的所述待测存储器的数据是否准确，若否，则确定所述熔丝存在缺陷。本申请测试方法简单，无需增加额外的测试步骤，也无需增加额外的测试时间，能够高效的筛选出有缺陷的熔丝，降低了客户端失效的概率。
本发明授权存储器的检测方法及检测装置在权利要求书中公布了：1.一种存储器的检测方法，其特征在于，包括如下步骤： 写入数据至待测存储器，所述待测存储器包括失效的存储单元、熔丝、以及通过所述熔丝替换失效的所述存储单元的冗余单元； 调整所述待测存储器的温度，并在所述待测存储器的温度改变的过程中重复刷新所述待测存储器、以及重复录入所述熔丝的状态； 判断所述待测存储器的温度是否稳定在预设温度，若是，则读取所述待测存储器的数据； 判断读取的所述待测存储器的数据是否准确，若否，则确定所述熔丝存在缺陷； 其中，所述待测存储器包括多个所述存储单元，且多个所述存储单元排布成存储阵列，所述存储阵列中至少包括一个通过所述熔丝被所述冗余单元替换的失效的所述存储单元；写入数据至待测存储器的具体步骤包括： 写入数据至待测存储器至所述存储阵列写满。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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