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龙图腾网获悉北京理工大学申请的专利基于偏振片反射偏振特性的红外分焦平面偏振校正方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116642596B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310368701.X，技术领域涉及：G01J5/80；该发明授权基于偏振片反射偏振特性的红外分焦平面偏振校正方法是由金伟其;杨建国;李力;崔昊设计研发完成，并于2023-04-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于偏振片反射偏振特性的红外分焦平面偏振校正方法在说明书摘要公布了：本发明公开的基于偏振片反射偏振特性的红外分焦平面偏振校正方法，属于偏振成像和测试计量技术领域。本发明实现方法为：添加修正系数调整附加辐射得到前置偏振片红外偏振成像系统辐射传输修正模型；采用非线性方法拟合图像灰度与入射辐射的关系，实现前置偏振片红外偏振成像系统的响应校正；利用前置偏振片红外偏振成像系统对温控可调红外偏振辐射源进行标定；构建红外分焦平面偏振成像系统辐射传输模型；利用温控可调红外偏振辐射源对红外分焦平面偏振成像系统进行响应校正和偏振校正。本发明相比在黑体前放置高消光比偏振片，能够避免微偏振片阵列参数的过校正，提高红外分焦平面偏振成像系统的校正精度。

本发明授权基于偏振片反射偏振特性的红外分焦平面偏振校正方法在权利要求书中公布了：1.基于偏振片反射偏振特性的红外分焦平面偏振校正方法，其特征在于：包括如下步骤， 步骤1、前置偏振片红外偏振成像系统包括光学系统、检偏器和探测器；到达检偏器的辐射包括入射辐射、光学系统的自发辐射和光学系统反射的检偏器的自发辐射；到达探测器的辐射包括入射辐射经过检偏器的辐射、检偏器的自发辐射和检偏器反射的探测器的自发辐射；其中检偏器反射辐射是有偏辐射，其主方向与透射辐射主方向相互垂直，导致入射到探测器的辐射偏振度降低；同时光学系统的自发辐射和检偏器的自发辐射也会导致入射到探测器的辐射偏振度降低；前置偏振片红外偏振成像系统有检偏器和无检偏器引入的附加辐射是不同的，通过添加修正系数调整附加辐射得到附加辐射修正后的前置偏振片红外偏振成像系统辐射传输模型； 步骤2、利用步骤1所述的前置偏振片红外偏振成像系统采集不同入射辐射的灰度图像，采用非线性方法拟合图像灰度与入射辐射的关系，实现图像灰度与入射辐射的转换，即实现前置偏振片红外偏振成像系统的响应校正； 步骤3、利用步骤1所述的前置偏振片红外偏振成像系统采集温控可调红外偏振辐射源不同黑体温度、不同起偏器温度对应的前置偏振片红外偏振成像系统不同检偏角图像和强度图像；利用步骤1得到的附加辐射修正后的前置偏振片红外偏振成像系统辐射传输模型，对温控可调红外偏振辐射源进行标定，提高对温控可调红外偏振辐射源的标定精度； 步骤4、红外分焦平面偏振成像系统包括光学系统、微偏振片阵列、焦平面阵列；到达微偏振片阵列的辐射包括入射辐射经过光学系统的辐射、光学系统的自发辐射和光学系统反射的微偏振片阵列的自发辐射；到达焦平面阵列的辐射包括入射辐射经过微偏振片阵列的辐射、微偏振片阵列的自发辐射和微偏振片阵列反射的焦平面阵列的自发辐射；对红外分焦平面偏振成像系统分析，构建红外分焦平面偏振成像系统辐射传输模型； 步骤5、利用步骤4所述的红外分焦平面偏振成像系统采集不同入射辐射的灰度图像，采用非线性方法拟合图像灰度与入射辐射的关系，实现图像灰度与入射辐射的转换，即实现红外分焦平面偏振成像系统的响应校正；将步骤4所述的红外分焦平面偏振成像系统置于步骤3所述的温控可调红外偏振辐射源前，采集不同黑体温度、不同起偏器温度、不同起偏角图像；根据步骤4构建的红外分焦平面偏振成像系统辐射传输模型，采用非线性方法拟合不同入射辐射与图像灰度的关系，从而获得精确的微偏振片阵列参数；根据获得的微偏振片阵列参数，构建实际分析矩阵，并结合理想分析矩阵对步骤4所述的红外分焦平面偏振成像系统进行偏振校正；将标定的温控可调红外偏振辐射源的出射辐射作为已知输入，而不是将黑体前放置高消光比偏振片的出射辐射作为已知输入，避免红外分焦平面偏振成像系统的微偏振片阵列参数的过校正，提高红外分焦平面偏振成像系统的校正精度。

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