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龙图腾网获悉中国科学院空天信息创新研究院申请的专利一种基于像素内量子效率测量的超采样成像方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117474761B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311464261.4，技术领域涉及：G06T3/4053；该发明授权一种基于像素内量子效率测量的超采样成像方法是由张泽;商明涛;薛鹤猛;于闳飞设计研发完成，并于2023-11-06向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于像素内量子效率测量的超采样成像方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于像素内量子效率测量的超采样成像方法，通过成像探测器像素内光场响应模型将探测器的单个像素分隔为k2个微像元，并建立微像元对应的光场与像素灰度值之间的函数关系；对于成像探测器的像素点m，n对应的光场Smn，利用成像探测器的不同像素对同一光场Smn进行成像，构建不同像素的灰度值和微像元对应的光场之间的方程组；在已知像素灰度值I和微像元的响应参数[a，b，c]的前提下，求解得到光场Smn中每一个微像元对应的高频光场Smni；将所得到的所有微像元对应的高频光场Smni进行重构，得到高分辨率图像。该方法无需构建训练数据集进行模型训练，一方面简化了图像处理的复杂程度，另外也从根本上避免了重构图像质量对训练数据集的依赖。

本发明授权一种基于像素内量子效率测量的超采样成像方法在权利要求书中公布了：1.一种基于像素内量子效率测量的超采样成像方法，其特征在于，所述方法包括： 步骤1、构建成像探测器像素内光场响应模型，将探测器的单个像素分割为k2个微像元，并建立微像元对应的光场与像素灰度值之间的函数关系； 在步骤1中，建立微像元对应的光场与像素灰度值之间的函数关系为： 其中，I为像素的灰度值；S为光场强度；ai，bi，ci为成像探测器像素中第i个微像元的响应参数，分别为光场零次项、一次项和二次项的系数；Si为第i个微像元对应的光场； 步骤2、利用成像探测器的不同像素对同一光场Smn进行成像，构建不同像素的灰度值和微像元对应的光场之间的方程组； 在步骤2中，所构建的不同像素的灰度值和微像元对应的光场之间的方程组表示为： 其中，Smni为光场Smn中第i个微像元对应的高频光场；k2为所分割出的微像元个数；[a,b,c]为微像元的响应参数；I为像素的灰度值，下标L为方程组中方程的个数，L≥k2； 步骤3、在已知像素灰度值I和微像元的响应参数[a，b，c]的前提下，求解步骤2的方程组得到光场Smn中每一个微像元对应的高频光场Smni； 步骤4、将步骤3所得到的所有微像元对应的高频光场Smni进行重构，得到高分辨率图像。

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