中国科学院新疆天文台;杭州电子科技大学刘奇获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院新疆天文台;杭州电子科技大学申请的专利一种超高屏蔽效能测量方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN118937853B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-05发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411161173.1,技术领域涉及:G01R31/00;该发明授权一种超高屏蔽效能测量方法是由刘奇;唐仁凯;董晓玉;郑献泽;李蓉;王娜设计研发完成,并于2024-08-22向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种超高屏蔽效能测量方法在说明书摘要公布了:本发明涉及一种超高屏蔽效能测量方法,包括:步骤S1,搭建屏蔽效能测量系统;步骤S2,测量信号源发射信号频率与信号分析仪对应接收信号频率的频率偏差,对进行屏蔽效能测量时设定的所有测试频点对应的频率进行频偏补偿;步骤S3,完成频偏补偿后,对信号分析仪进行1dB压缩点测试,获取信号分析仪在所有测试频点下的1dB压缩点功率,计算信号源在所有测试频点下的动态匹配功率;步骤S4,搭建参考电平测量系统,测量信号分析仪在所有测试频点下的参考电平;步骤S5,在屏蔽效能测量系统中测量经过屏蔽后所有测试频点对应的功率值,并根据参考电平,获取待测屏蔽室的屏蔽效能。本发明实现了超高性能屏蔽效能测量要求。
本发明授权一种超高屏蔽效能测量方法在权利要求书中公布了:1.一种超高屏蔽效能测量方法,其特征在于,包括: 步骤S1,搭建屏蔽效能测量系统,所述屏蔽效能测量系统包括发射装置、接收装置以及与所述发射装置、所述接收装置连接的控制装置;所述发射装置包括信号源、与所述信号源连接的发射天线以及与所述信号源连接的第一光电转换器,所述发射天线安装于待测屏蔽室中;所述接收装置包括信号分析仪以及与所述信号分析仪连接的接收天线,所述接收天线的前端设置有放大器;所述控制装置包括控制系统以及与所述控制系统连接的第二光电转换器,所述第二光电转换器与所述第一光电转换器连接,并与所述信号分析仪连接; 步骤S2,将所述信号源和所述信号分析仪取出,测量所述信号源发射信号频率与所述信号分析仪对应接收信号频率的频率偏差,对进行屏蔽效能测量时设定的所有测试频点对应的频率进行频偏补偿,得到频偏补偿后的频率; 步骤S3,完成频偏补偿后,对所述信号分析仪进行1dB压缩点测试,获取所述信号分析仪在所述所有测试频点下的1dB压缩点功率,并计算所述信号源在所述所有测试频点下的动态匹配功率;其中,获取所述信号分析仪在所述所有测试频点下的1dB压缩点功率包括: 步骤S311,初始化1,设定信号源发射功率的步进值为Δ,并重新设定所述信号分析仪的扫频带宽、扫描带宽内的扫描点数、分辨率带宽和视频滤波器带宽; 步骤S312,对于第个测试频点,其信号源初始发射功率记为,所述信号分析仪对应的初始接收功率记为,根据步进值Δ逐步增加信号源发射功率,在信号源发射功率逐步增加的过程中获取满足公式时所对应的信号源发射功率,从而获取所述信号分析仪在该频点下的1dB压缩点功率;其中,表示在第个测试频点下信号源发射功率的步进次数,表示在第个测试频点下达到信号分析仪1dB压缩点时信号源的输出功率;表示第个测试频点对应的线缆损耗值;,表示进行屏蔽效能测量时设定的测试频点数; 步骤S313,令=+1,返回步骤S312,直至=,得到所述信号分析仪在所述所有测试频点下的1dB压缩点功率,第个测试频点对应的1dB压缩点功率记为; 步骤S4,将所述信号源和所述信号分析仪放回所述屏蔽效能测量系统,离开所述待测屏蔽室,并将所述发射装置和所述接收装置置于微波暗室中,搭建参考电平测量系统,测量所述信号分析仪在所述所有测试频点下的参考电平;包括: 步骤S41,初始化1,搭建所述参考电平测量系统后,再次重新设定所述信号分析仪的扫频带宽、扫频带宽内的扫描点数、分辨率带宽、视频滤波器带宽和扫频时间; 步骤S42,设定信号源发射频率对应的发射功率为动态匹配功率,设定信号分析仪中心频率为频偏补偿后的频率,按照步骤S41设定的所述信号分析仪的参数,测量信号分析仪中心频率对应的功率值;,表示进行屏蔽效能测量时设定的测试频点数; 步骤S43,令=+1,返回步骤S42,直至=,得到信号分析仪在所有测试频点下的参考电平; 步骤S5,离开所述微波暗室,放回所述待测屏蔽室,测量经过屏蔽后所述所有测试频点对应的功率值,并根据所述参考电平,获取所述待测屏蔽室的屏蔽效能;包括: 步骤S51,初始化1,设定所述信号分析仪的扫频带宽、扫频带宽内的扫描点数、分辨率带宽、视频滤波器带宽和扫频时间与所述步骤S41中的设定值保持一致; 步骤S52,设定信号源发射频率对应的发射功率为动态匹配功率,设定信号分析仪中心频率为频偏补偿后的频率,按照所述步骤S51设定的参数测量经过屏蔽后频率对应的功率值; 步骤S53,令=+1,返回步骤S52,直至=,得到经过屏蔽后所有测试频点对应的功率值; 步骤S54,根据所述参考电平和所述功率值,计算待测屏蔽室的屏蔽效能。
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