中国科学院自动化研究所杜洋获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院自动化研究所申请的专利一种提高磁粒子成像空间分辨率的方法、装置及设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119130806B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411143868.7，技术领域涉及：G06T3/4053；该发明授权一种提高磁粒子成像空间分辨率的方法、装置及设备是由杜洋;田捷;苏磊;梁倩设计研发完成，并于2024-08-20向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种提高磁粒子成像空间分辨率的方法、装置及设备在说明书摘要公布了：本发明涉及磁粒子成像技术领域，公开了一种提高磁粒子成像空间分辨率的方法、装置及设备，方法包括：获取SM分量数据，并将SM分量数据从复数域转化到RGB域，得到SM样本数据；为SM样本数据添加白噪声，得到SM加噪样本数据，SM样本数据与对应的SM加噪样本数据构成匹配数据对；利用匹配数据对对预设SM去噪模型进行训练得到SM去噪模型；利用SM去噪模型对实际SM数据进行去噪，并利用去噪后的实际SM数据重建磁粒子图像。本发明通过训练SM去噪模型，实现对SM分量去噪，减少了重建磁粒子图像的噪声信息，进而提升了磁粒子成像的空间分辨率，得到高分辨率的成像结果，更好地辅助医生进行临床影像判读与诊断。
本发明授权一种提高磁粒子成像空间分辨率的方法、装置及设备在权利要求书中公布了：1.一种提高磁粒子成像空间分辨率的方法，其特征在于，所述方法包括： 获取SM分量数据，并将所述SM分量数据从复数域转化到RGB域，得到SM样本数据； 为所述SM样本数据添加白噪声，得到SM加噪样本数据，所述SM样本数据与对应的SM加噪样本数据构成匹配数据对； 利用所述匹配数据对对预设SM去噪模型进行训练得到SM去噪模型； 利用所述SM去噪模型对实际SM数据进行去噪，得到去噪后的实际SM数据，并利用去噪后的实际SM数据重建磁粒子图像。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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