武汉纺织大学张亚鹏获国家专利权
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龙图腾网获悉武汉纺织大学申请的专利一种基于核磁共振波谱半高宽的磁纳米粒子质量浓度计算方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119310124B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-05发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411570406.3,技术领域涉及:G01N24/08;该发明授权一种基于核磁共振波谱半高宽的磁纳米粒子质量浓度计算方法是由张亚鹏;胡松;张斌;罗维平;马双宝设计研发完成,并于2024-11-06向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于核磁共振波谱半高宽的磁纳米粒子质量浓度计算方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种基于核磁共振波谱半高宽的磁纳米粒子质量浓度计算方法,属于磁纳米材料测试技术领域,本发明以磁纳米粒子诱使局部磁场不均匀而导致磁共振波谱产生变化为媒介,建立了磁纳米粒子的质量浓度与磁共振波谱半高宽之间的关系,由于单个磁纳米粒子的饱和磁化强度固定,所以磁纳米粒子的质量浓度的变化本质上是磁纳米粒子的数量变化,质量浓度与磁共振波谱半高宽具有线性关系,通过测量磁共振波谱半高宽可以反映出磁纳米粒子质量浓度的变化,实现对磁纳米粒子质量浓度的测量。
本发明授权一种基于核磁共振波谱半高宽的磁纳米粒子质量浓度计算方法在权利要求书中公布了:1.一种基于核磁共振波谱半高宽的磁纳米粒子质量浓度计算方法,其特征在于,该方法包括以下步骤: S1.在设定的温度T下,采用核磁共振的方法对未加入磁纳米粒子的纯氘水试剂进行测量,记录核磁共振波谱中半高宽FWHM的数值; S2.选择标称粒径一致的磁纳米粒子试剂,按照比例将其稀释为不同质量浓度的试剂,对不同浓度下的磁纳米粒子试剂进行核磁共振实验,记录对应的核磁共振波谱中半高宽的数值; S3.S2中记录的质量浓度与半高宽对应的样本点,表现形式为离散的数据点,将离散的数据点线性拟合后,得到在磁纳米粒子粒径统一的条件下,核磁共振波谱半高宽与磁纳米粒子浓度的线性关系,其中,为核磁共振波谱半高宽与磁纳米粒子质量浓度线性关系的斜率,C为测试样品中的磁纳米粒子质量浓度; S4.选择多组标称粒径不一致的磁纳米粒子试剂,按照S2中的步骤,将各个粒径下对应的试剂稀释为不同质量浓度的样品,再分别对不同质量浓度的磁纳米粒子试剂进行磁共振实验,记录对应的核磁共振波谱中半高宽的数值; S5.在S4的各组实验中,根据不同粒径下半高宽FWHM与质量浓度massconcentration的线性关系,得到不同粒径对应的,粒径与对应不同的样品点,将离散的样品点拟合,建立磁纳米粒子粒径d与粒子粒径对应的之间的线性关系,其表达式为:,其中,k为该线性关系的斜率,d为待测样品中的磁纳米粒子的标称粒径,b为线性关系的截距; S6.通过S3与S5中公式,得到磁纳米粒子质量浓度与半高宽的关系式,根据该关系式,在已知待测浓度的磁纳米粒子试剂所对应的核磁共振波谱半高宽与磁纳米粒子粒径d的情况下,可以预测待测磁纳米粒子试剂的质量浓度。
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