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龙图腾网获悉南京大学申请的专利一种辐照环境下测量器件电学特性的实验系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119535144B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411733006.X，技术领域涉及：G01R31/26；该发明授权一种辐照环境下测量器件电学特性的实验系统是由周峰;李宇哲;罗中易;张致远;郑昌锐;陆海设计研发完成，并于2024-11-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种辐照环境下测量器件电学特性的实验系统在说明书摘要公布了：本发明提供了一种辐照环境下测量器件电学特性的实验系统，通过触发单元通过模数转换后分别与雪崩测试单元和浪涌测试单元相连，生成测试触发信号；通过雪崩测试单元和浪涌测试单元分别输出对应的测试信号并记录待测器件的电学特性数据；通过控制信号处理单元通过信号综合判断，实现对各测试通道的开关控制；通过自检比较单元接收保护电路产生的自检电流信号并生成对应信号输出至控制信号处理单元；通过判定单元对各测试单元的信号输出进行比较，标记异常单元；通过辐照保护单元隔离辐射环境对测试系统的影响。集成度高、测试方便快捷、直观显示异常情况、大幅减少故障概率等优点。

本发明授权一种辐照环境下测量器件电学特性的实验系统在权利要求书中公布了：1.一种辐照环境下测量器件电学特性的实验系统，其特征在于：包括触发单元、雪崩测试单元、浪涌测试单元、控制信号处理单元、自检比较单元、判定单元和辐照保护单元； 所述触发单元，用于产生测试信号并通过统一测试通道连接至所述雪崩测试单元和浪涌测试单元； 所述雪崩测试单元通过雪崩测试通道连接待测半导体器件，输出雪崩测试信号并显示所述待测半导体器件的测试数据； 所述浪涌测试单元通过浪涌测试通道连接待测半导体器件，输出浪涌测试信号并显示所述器件的测试数据； 所述控制信号处理单元控制雪崩测试单元和浪涌测试单元的工作状态，以保证确保雪崩测试通道和浪涌测试通道不会同时启用，并生成转换信号切换测试线路； 所述自检比较单元，用于接收雪崩测试单元和浪涌测试单元的输出信号并进行自检，判断保护电路是否正常工作，并将自检结果传输至控制信号处理单元； 所述判定单元用于比较雪崩测试电路和浪涌测试电路的输出信号，识别其中的异常信号并驱动红色LED灯提示操作人员； 所述辐照保护单元通过防辐照材质包裹上述所有单元并暴露于辐照环境中。

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