中国科学院长春光学精密机械与物理研究所王玮获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利一种双视场离轴数字全息测量装置、系统及相位测量方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119689817B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-05发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411850648.8,技术领域涉及:G03H1/08;该发明授权一种双视场离轴数字全息测量装置、系统及相位测量方法是由王玮;尹志宇;李文昊;于宏柱;刘兆武;王新宇;梁旭设计研发完成,并于2024-12-16向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种双视场离轴数字全息测量装置、系统及相位测量方法在说明书摘要公布了:本发明涉及离轴数字全息技术领域,本发明公开一种双视场离轴数字全息测量装置、系统及相位恢复方法,其中光学系统包括:沿光束传播方向依次设置的,光源;第一分束器,用于将光束分为物光和参考光,沿所述物光的方向依次设置:待测物体、准直系统和采样光学系统,所述采样光学系统用于将经所述准直系统出射的光束分为:第一采样通道物光和第二采样通道物光,沿所述参考光的方向设置的反射镜;用于将参考光、第一采样通道物光和第二采样通道物光生成干涉图的第二分束器和CCD相机。本发明无需多个具有反射性能的光学器件,仅通过电控4f光学系统中的数字微镜器件的微镜角度实现离轴角度的精准控制和双倍视场的采集,降低了系统的复杂度,便于集成。
本发明授权一种双视场离轴数字全息测量装置、系统及相位测量方法在权利要求书中公布了:1.一种双视场离轴数字全息测量装置,其特征在于,包括:沿光束传播方向依次设置的, 光源; 光束整形系统,用于提高所述光源发射的光束质量; 第一分束器,用于将光束分为物光和参考光,形成物光光路和参考光光路; 所述物光光路,包括:待测物体、准直系统和采样光学系统,所述采样光学系统用于将经所述准直系统出射的光束分为:第一采样通道物光和第二采样通道物光,所述第一采样通道物光和第二采样通道物光的传输方向相同,均垂直于所述准直系统出射的光束方向; 所述参考光光路,包括:反射镜,所述反射镜设置在所述光束整形系统的共轭后焦平面上; 第二分束器,所述参考光、所述第一采样通道物光和第二采样通道物光在所述第二分束器上合束; CCD相机,经合束后的光束在所述CCD相机上发生干涉形成干涉图; 所述准直系统包括: 第二显微物镜和第二准直透镜,用于将经所述待测物体后的所述物光进行扩束、准直。
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