买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉苏州热工研究院有限公司申请的专利探测不规则物料放射性污染的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119780990B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411875627.1，技术领域涉及：G01T1/00；该发明授权探测不规则物料放射性污染的方法是由杨立涛;孙雪峰;黄彦君;陈辉;钱光磊设计研发完成，并于2024-12-18向国家知识产权局提交的专利申请。

本探测不规则物料放射性污染的方法在说明书摘要公布了：本发明公开了探测不规则物料放射性污染的方法，该方法包括以下步骤：根据不规则物料的污染类型在不规则物料的点云数据中随机抽取一个点，作为射线的发射点；在探测器的探测器端面内随机抽取一个点，作为探测点；将发射点和探测点的连线与不规则物料表面相交的点，作为穿透点；重复抽取发射点和探测点预设次数；根据预设次数抽取的发射点与穿透点的距离以及预设次数抽取的探测点与穿透点的距离，计算出不规则物料放射性污染。本发明解决了无法计算大体积不规则物料放射性污染，且解决了目前方法存在需要根据物料介质制定刻度源或者对实施人员技术要求高、模拟计算时间长、方法不易移植等问题。

本发明授权探测不规则物料放射性污染的方法在权利要求书中公布了：1.一种探测不规则物料放射性污染的方法，其特征在于，该方法包括以下步骤： 根据不规则物料的体污染或者表面污染污染类型在不规则物料的点云数据中随机抽取一个点作为射线的发射点，包括：若不规则物料污染类型为体污染，则在不规则物料体素点云数据中随机抽取一个点，作为射线的体素发射点，记作s1x,y,z，若不规则物料污染类型为表面污染，则在不规则物料表面点云数据中随机抽取一个点，作为射线的表面发射点，记作sx,y,z； 在探测器的探测器端面内随机抽取一个点，作为探测点dx,y,z； 将发射点和探测点的连线与不规则物料表面相交的点作为穿透点，包括：若不规则物料污染类型为体污染，则将体素发射点s1x,y,z和探测点dx,y,z的连线与不规则物料表面相交的点，作为体素穿透点t1x,y,z； 或者，若不规则物料污染类型为表面污染，则将表面发射点sx,y,z和探测点dx,y,z的连线与不规则物料表面相交的点，作为表面穿透点tx,y,z，包括：判断表面发射点sx,y,z和探测点dx,y,z的连线与不规则物料表面是否有相交的点；若是，则表面发射点sx,y,z为不在探测器探测范围内的表面发射点，记作s2x,y,z，且不在探测器探测范围内的表面发射点s2x,y,z和探测点dx,y,z的连线与不规则物料表面相交的点，作为表面穿透点t2x,y,z；若否，则表面发射点sx,y,z为在探测器探测范围内的表面发射点，记作s3x,y,z，且不存在表面穿透点； 重复抽取发射点和探测点预设次数，包括：若不规则物料污染类型为体污染，则重复抽取体素发射点s1x,y,z和探测点dx,y,zp次；或者，若不规则物料污染类型表面污染，则判断表面发射点是否在探测器探测范围内，若表面发射点为不在探测器探测范围内的表面发射点s2x,y,z，则重复抽样不在探测器探测范围内的表面发射点s2x,y,z和探测点dx,y,zn次，若表面发射点为在探测器探测范围内的表面发射点s3x,y,z，则重复抽样在探测器探测范围内的表面发射点s3x,y,z和探测点dx,y,zm次； 根据预设次数抽取的发射点与穿透点的距离以及预设次数抽取的探测点与穿透点的距离，计算出不规则物料放射性污染，包括：若不规则物料污染类型为体污染，根据p次抽取的体素发射点s1x,y,z与探测点dx,y,z的距离l1以及p次抽取的体素发射点s1x,y,z与体素穿透点t1x,y,z的距离l1'，计算出不规则物料体放射性污染；不规则物料体放射性污染的计算公式为：；其中，μ为物料的线衰减系数，l1为第k次抽样的体素发射点s1x,y,z到探测点dx,y,z的距离，l1'为第k次抽样的体素发射点s1x,y,z到体素穿透点t1x,y,z的距离； 或者，若不规则物料污染类型为表面污染，则判断表面发射点是否在探测器探测范围内；若表面发射点为不在探测器探测范围内的表面发射点s2x,y,z，则根据n次抽取的不在探测器探测范围内的表面发射点s2x,y,z与探测点dx,y,z的距离l2以及n次抽取的表面发射点s2x,y,z与表面穿透点t2x,y,z的距离l2'；以及，若表面发射点为在探测器探测范围内的表面发射点s3x,y,z，则根据m次抽取的在探测器探测范围内的表面发射点s3x,y,z与探测点dx,y,z的距离l3，计算得到不规则物料表面放射性污染；不规则物料表面放射性污染的计算公式为：；其中，μ为物料的线衰减系数，l2为第i次抽样的不在探测器探测范围内的表面发射点s2x,y,z到探测点dx,y,z的距离，l2'为第i次抽样的不在探测器探测范围内表面发射点s2x,y,z到表面穿透点t2x,y,z的距离，l3为第j次抽样的在探测器探测范围内表面发射点s3x,y,z到探测点dx,y,z的距离。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人苏州热工研究院有限公司，其通讯地址为：215004 江苏省苏州市西环路1688号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。