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龙图腾网获悉中国电子科技集团公司第二十研究所申请的专利适用于平面近场暗室初相测试的桌面联试系统及其方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119828086B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411954117.3，技术领域涉及：G01S7/40；该发明授权适用于平面近场暗室初相测试的桌面联试系统及其方法是由姜婕;高博;魏明设计研发完成，并于2024-12-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本适用于平面近场暗室初相测试的桌面联试系统及其方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种适用于平面近场暗室初相测试的桌面联试系统及其方法，通过模拟天线暗室测试系统的到位信号，将校准信号通过功分分别灌入采集接收通道，在多通道数字采集设备中完成校准信号采样，得到每个天线通道的初始相位值，再进行通道补偿，查看补偿结果是否符合要求。整个过程均可在实验室内完成，可完全模拟暗室测试系统到位信号时序，不需占用天线暗室资源，提高后续的天线暗室测试效率。本发明相比于传统方法大大提高了天线暗室测试效率，节省测试成本，并且本发明方法是一个通用性较强的方法，适用于平面近场暗室测试普遍情况。

本发明授权适用于平面近场暗室初相测试的桌面联试系统及其方法在权利要求书中公布了：1.一种适用于平面近场暗室初相测试的桌面联试系统，包括暗室测试系统信号模拟与回传数据读取部分、天线校准信号控制与发射部分以及多通道信号控制与采集计算部分，其特征在于： 所述适用于平面近场暗室初相测试的桌面联试系统，暗室测试系统信号模拟与回传数据读取部分包含信号源与上位机；利用信号源实现暗室测试系统到位信号的模拟，信号在暗室测试时是由暗室测试系统发出，当天线测试探头移动到对应测试的天线单元前方位置后，将到位信号发送给数字采集设备，此时数字采集设备对探头发出的校准信号进行采样，计算获取相位值，当数字采集设备完成信号采样与结果计算上传的处理后，探头移动至下一个对应测试的天线单元前方位置，测试系统发送到位信号，继续下一个单元的通道采样，两次到位信号之间的时间根据探头机械移动时间与数字采样处理全过程进行综合计算； 天线校准信号控制与发射部分包含校准模块与信号功分；数字采集设备的波控板卡接收到位信号后，按测试需求发送控制指令至校准模块，此时，校准模块解析指令，输出符合要求的校准信号，将校准信号直接通过多路功分后发送至数字采集设备中的采集板卡进行多通道信号采集，具体功分几路根据实际测试天线通道数进行定义； 多通道信号控制与采集计算部分包含采集板卡、合成板卡及波控板卡；采集板卡完成对校准信号的多通道采样，并计算每个通道采样结果的幅度值与相位值，进而计算出波束形成前每个数字通道需要补偿的相位值和幅度值，将其送至合成板卡；波控板卡进行时钟分配与控制指令发送。

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