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龙图腾网获悉中国舰船研究设计中心申请的专利一种基于区域γ和中子实测值的辐射场数据校正方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119882019B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411774157.X，技术领域涉及：G01T7/00；该发明授权一种基于区域γ和中子实测值的辐射场数据校正方法是由张静;蔡垚;余少杰设计研发完成，并于2024-12-05向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于区域γ和中子实测值的辐射场数据校正方法在说明书摘要公布了：本发明实施例提供了一种基于区域γ和中子实测值的辐射场数据校正方法，包括进行辐射场理论计算，计算正常运行时，所关注区域内的冷却剂管道中N‑16放射性核素衰变出的γ射线源项、一次屏蔽γ射线源项及一次屏蔽中子源项；建立区域内的设备模型，根据区域内布置的设备和材料，建立几何模型；利用设定计算方式进行放射性源项中的γ射线和中子在整个区域内的输运计算，计算使用Fmesh计数卡，网格大小与探测装置大小相当，得到区域内正常运行时区域内的γ辐射场、中子辐射场；根据在区域内设置的多个探测装置的实测值和对应监测点的辐射场理论值，利用最小二乘法，求出校正系数，对所有的理论辐射场数据进行校正，得到校正后的区域辐射场。

本发明授权一种基于区域γ和中子实测值的辐射场数据校正方法在权利要求书中公布了：1.一种基于区域γ和中子实测值的辐射场数据校正方法，其特征在于，包括： 步骤1：进行辐射场理论计算，其具体包括： 进行源项计算，计算出正常运行时，所关注区域内的放射性源项，其中，源项至少包括冷却剂管道中N-16放射性核素衰变出的γ射线源项、一次屏蔽γ射线源项以及一次屏蔽中子源项； 建立区域内的设备模型，具体根据区域内布置的设备和材料，建立几何模型，为γ射线和中子在区域内的输运做准备； 进行区域内的输运计算，包括利用设定计算方式进行放射性源项中的γ射线和中子在整个区域内的输运计算，计算使用Fmesh计数卡，网格大小与探测装置大小相当，进而分别得到区域内正常运行时区域内的γ辐射场、中子辐射场； 步骤2：进行辐射场校正，包括根据在区域内设置的多个探测装置的实测值和对应监测点的辐射场理论值，利用最小二乘法，求出校正系数，对所有的理论辐射场数据进行校正，得到校正后的区域辐射场； 所述根据在区域内设置的多个探测装置的实测值和对应监测点的辐射场理论值，利用最小二乘法，求出校正系数，包括： 设定一元线性模型中，变量x、y满足线性关系，即， y＝ax+b1 通过N组已知的xi，yi，根据最小二乘法的思想，求得一组a和b，使总的误差平方和σ2最小； 从而利用公式1和x，模拟出变量y； 在γ场中，采用电离室探测装置、GM管计数器进行探测；当平行γ射线束照射在电离室上时，平均每个光子在电离室灵敏体中沉积的能量W，若这些能量全部转化为电离室灵敏气体的电离能，且产生的电荷全部被电极收集，则电离室输出的电流如下： 其中，I为电离室输出的电流，单位A，W为平均每个光子在电离室灵敏体中沉积的能量，S为发射面积，e为电子电量,μenρ为能量为E的γ射线的质量能量吸收系数，E为γ射线能量，w为灵敏气体的电离能，为空间位置点的γ射线剂量率，单位μGyh； 从公式3得知，电离室输出电流I与γ射线剂量率成比例；电离室探测装置通过模拟得到的灵敏度参数，将电流I转化成γ射线剂量率此值在探测装置上能够直接读出，代表着区域中的实际测量值； 设定一个误差阈值，以辐射场计算而言，设定误差阈值最大为10，若理论计算值与实测值相差10倍以上，则该点不参与数据修正计算； 利用公式2，根据统计方差和最小，采用最小二乘法求得修正系数a，b； 通过计算的结果和辐射场理论计算结果得出整个辐射场的修正结果。

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