上海交通大学邹卫文获国家专利权
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龙图腾网获悉上海交通大学申请的专利一种平方探测型光接收机的光采样脉冲设计和采样带宽扩展方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120150842B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510306957.7，技术领域涉及：H04B10/60；该发明授权一种平方探测型光接收机的光采样脉冲设计和采样带宽扩展方法是由邹卫文;陈心佩;秦睿恒;张乐;吴佳星设计研发完成，并于2025-03-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种平方探测型光接收机的光采样脉冲设计和采样带宽扩展方法在说明书摘要公布了：一种适用于平方探测型光接收机的光采样脉冲设计和采样带宽扩展方法。该方法基于系统传递函数分析和光谱卷积特性，面向电谱优化光采样脉冲的光谱分布，使光谱更加平坦，从而扩展系统的采样带宽。与现有方法不同，本方法通过调控光梳幅度关系，而无需改变已有的锁相光梳数目，无需额外引入光学器件，不增加系统复杂度，为大规模集成光接收机的光采样脉冲生成提供了一种可行方案。本发明可有效提升平方探测型光接收机的性能，并为其实用化应用提供重要支撑。
本发明授权一种平方探测型光接收机的光采样脉冲设计和采样带宽扩展方法在权利要求书中公布了：1.一种适用于平方探测型光接收机的光采样脉冲设计和采样带宽扩展方法，其特征在于，包括如下步骤： 步骤1.确定光采样脉冲光梳与电梳的卷积约束关系：获取光采样脉冲光谱锁相梳线根数M，基于光电转换过程中光谱与电谱的卷积效应，建立光采样脉冲光梳Epulsef与电梳Ipulsef之间的卷积约束关系，如下： 其中，Inf表示第n阶电梳，Ek-Nf表示第k-N阶光梳，fm表示光梳的频率间隔，N表示光梳总阶数； 步骤2.构建电谱平坦电梳所需满足的优化问题：根据所述卷积约束关系，以最小化电梳幅度差异为目标函数，构建电谱优化模型，如下： min|I0f-minI0f,I1f,I2f,...,Inf|； 其中，Inf表示第n阶电梳； 步骤3.求解电谱优化问题并反推光谱设计； 针对不同目标优化的电梳数量，求解所述电谱优化模型； 结合电梳数量和平坦度要求，选取最优的电谱设计方案； 基于所述卷积约束关系反推最优电梳对应的光梳幅度分布，调节光采样脉冲的调制参数，使光谱特性符合设计要求。
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