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龙图腾网获悉深圳市创元微电子科技有限公司申请的专利一种基于机器视觉的液晶屏Mura缺陷量化评估方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120747060B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511196987.3，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种基于机器视觉的液晶屏Mura缺陷量化评估方法及系统是由齐斌斌;韦文勇;何栢根;何海生设计研发完成，并于2025-08-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于机器视觉的液晶屏Mura缺陷量化评估方法及系统在说明书摘要公布了：本发明提出了一种基于机器视觉的液晶屏Mura缺陷量化评估方法及系统，所述方法包括，通过工业相机获取液晶屏图像，并对液晶屏图像进行反射光分离处理；对液晶屏图像进行预处理后，提取液晶屏图像的纹理特征和形态学特征；将提取到的纹理特征和形态学特征组成特征向量，并通过Mura缺陷评估模型判断所述液晶屏图像是否存在Mura缺陷以及Mura缺陷的形态特征；生成缺陷检测报告。本发明通过动态反射光分离算法消除环境光干扰，提取纯净透射光图像，避免了现有技术检测Mura缺陷中忽略了环境光干扰对检测结果的影响，从而对Mura缺陷检测造成误差的缺点，提升了液晶屏质量检测的自动化水平与生产效率。

本发明授权一种基于机器视觉的液晶屏Mura缺陷量化评估方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种基于机器视觉的液晶屏Mura缺陷量化评估方法，其特征在于，所述方法包括： S1：通过工业相机获取液晶屏图像，并对液晶屏图像进行反射光分离处理；所述S1的对液晶屏图像进行反射光分离处理，具体包括： 获取每个偏振角度下液晶屏图像的亮度值，并根据公式获取偏振角度为时的理论反射光强度，其中，表示偏振角度为时的理论反射光强度，表示振角度为时的反射系数，表示入射光强度； 通过偏振光反射模型估算每个偏振角度下液晶屏图像的实际反射光强度；并且，所述偏振光反射模型的估算公式如下： ； 其中，表示实际反射光强度，表示入射光角度，d表示液晶层的厚度，λ表示光的波长，表示在温度为T时的液晶屏双折射率； 并且，所述液晶屏双折射率通过如下公式获取： ； 其中，表示液晶屏在标准温度下的双折射率，表示材料特性常数，T表示环境温度，表示标准温度，所述标准温度为25℃，在标准温度下的双折射率为0.15； 通过最小二乘拟合的方法，将不同偏振角度下的液晶屏图像的实际反射光强度与理论反射光强度进行拟合，获取反射光的贡献值；并且，所述贡献值的表达式如下： ； 其中，k表示反射光的贡献值，i表示对应的偏振角度，其中，；通过图像分解提取出反射光，得到若干张反射光分离图像；图像分解通过如下方式获取： ； 其中，表示反射光分离后的液晶屏图像亮度，表示液晶屏图像的初始亮度，表示理论反射光强度； 通过图像分解提取出反射光，得到若干张反射光分离图像； S2：对所述反射光分离图像进行预处理后，提取反射光分离图像的纹理特征和形态学特征； S3：将提取到的纹理特征和形态学特征组成特征向量，并通过Mura缺陷评估模型判断所述液晶屏图像是否存在Mura缺陷以及Mura缺陷的形态特征； S4：生成缺陷检测报告。

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