武汉驿路通科技股份有限公司李家喻获国家专利权
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龙图腾网获悉武汉驿路通科技股份有限公司申请的专利波分复用器芯片后加工管理系统、装置及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120750418B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510894936.1，技术领域涉及：H04B10/07；该发明授权波分复用器芯片后加工管理系统、装置及介质是由李家喻;覃慧;鲁思成设计研发完成，并于2025-06-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本波分复用器芯片后加工管理系统、装置及介质在说明书摘要公布了：本发明公开了波分复用器芯片后加工管理系统、装置及介质，涉及加工管理技术领域，包括：对波分复用器芯片进行应用场景采集建立应用场景集；利用应用场景集配置性能测试方案，建立性能测试方案集，执行波分复用器芯片测试记录测试数据；配置性能关键指标后激活映射弱识别器执行测试数据的独立关键指标异常识别，建立第一测试结果；对测试数据进行特征提取，建立全局特征向量，将全局特征向量作为输入数据输入至全局评价通道建立第二测试结果；对第一测试结果、第二测试结果融合后，生成后加工质量异常。本发明解决现有技术中无法准确识别芯片后加工过程中的性能异常的技术问题，达到提升芯片后加工阶段异常发现的准确性和效率的技术效果。
本发明授权波分复用器芯片后加工管理系统、装置及介质在权利要求书中公布了：1.波分复用器芯片后加工管理系统，其特征在于，所述系统包括： 场景构建模块，用于对波分复用器芯片进行应用场景采集，建立应用场景集，所述应用场景集设置有场景信任标识； 测试方案建立模块，用于利用所述应用场景集配置性能测试方案，建立性能测试方案集； 测试模块，用于利用所述性能测试方案集执行波分复用器芯片测试，并记录测试数据，所述测试数据包括性能数据、环境数据； 独立响应模块，用于在配置性能关键指标后，基于所述性能关键指标激活映射弱识别器执行所述测试数据的独立关键指标异常识别，建立第一测试结果； 全局响应模块，用于对所述测试数据进行特征提取，建立全局特征向量，将所述全局特征向量作为输入数据，输入至全局评价通道，建立第二测试结果； 报出模块，用于对所述第一测试结果、所述第二测试结果融合后，生成后加工质量异常。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人武汉驿路通科技股份有限公司，其通讯地址为：430205 湖北省武汉市东湖新技术开发区佛祖岭一路7号驿路通科技园；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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