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龙图腾网获悉成都善思微科技有限公司申请的专利一种可提高图像抗干扰性能的方法及探测器获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120802324B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511248169.3，技术领域涉及：G01T1/16；该发明授权一种可提高图像抗干扰性能的方法及探测器是由杨光;张庆;罗杰;张冲设计研发完成，并于2025-09-03向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种可提高图像抗干扰性能的方法及探测器在说明书摘要公布了：本发明涉及X射线探测器技术领域，提供一种可提高图像抗干扰性能的方法及探测器。本发明通过在探测器中新增干扰探测电路，在干扰校正模式下得到X射线探测器对外部干扰强度的干扰响应系数。在正常采集模式下利用干扰校正模式下得到的干扰响应系数以及正常采集模式下探测器信号响应数据以及干扰探测电路的干扰强度得到了有效的探测器图像，从而实现通过较低且可控的硬件成本增加，在干扰场景下得到更可靠、更稳定、且具有更优效果的图像性能，从而实现干扰条纹大幅减弱或消失，图像质量显著提升。

本发明授权一种可提高图像抗干扰性能的方法及探测器在权利要求书中公布了：1.一种可提高图像抗干扰性能的方法，其特征在于，包括 在探测器正常采集模式下，读出电路逐行读取像素阵列的信号响应数据S；同时， 干扰探测电路检测并输出干扰强度数据R； 计算有效信号响应数据V，计算公式如下： V=S-R·K， K=SCRC， 其中，K为干扰响应系数，SC为因干扰产生的探测器响应数据，RC为干扰探测电路检测的校正干扰强度数据； 对于同一行像素，读出电路读取信号响应数据S与干扰探测电路检测干扰强度数据R同步； 所述干扰响应系数K在第一干扰校正模式下获取，所述第一干扰校正模式下无X光照射，干扰响应系数K的获取方法包括： 对探测器提供干扰，所述干扰包括静电放电、电源波动、电源浪涌、工频磁场干扰、射频传导、辐射干扰中的至少一种； 读出电路逐行读取像素阵列所有像素的响应数据矩阵{Cmn}，作为SC； 在读出电路读取某行像素阵列的响应数据的同时，干扰探测电路检测该行对应的行干扰强度数据，遍历所有行，得到M*1大小的矩阵{Cm}，作为RC，其中1≤m≤M，1≤n≤N，M和N分别为探测器像素阵列的行数和列数； 通过K=SCRC计算得到K；或 干扰响应系数K的获取方法包括： 对探测器提供干扰，所述干扰包括静电放电、电源波动、电源浪涌、工频磁场干扰、射频传导、辐射干扰中的至少一种； 读出电路读取像素阵列第m行像素的响应数据，得到矩阵{Cmn}，作为第m行的响应数据SCm；同时， 干扰探测电路检测第m行对应的行干扰强度数据RCm，其中1≤m≤M，1≤n≤N，M和N分别为探测器像素阵列的行数和列数； 通过Km=SCmRCm计算得到第m行的干扰响应系数Km； 遍历探测器像素阵列的所有行，得到所有像素对应的干扰响应系数矩阵{Kmn}，作为干扰响应系数K；或 干扰响应系数K在第二干扰校正模式下获取，干扰响应系数K的获取方法包括： 对探测器提供干扰，所述干扰包括静电放电、电源波动、电源浪涌、工频磁场干扰、射频传导、辐射干扰中的至少一种； 打开X射线，探测器在干扰环境下获取校正试样的灰度值图像P1; 探测器在干扰环境下获取校正试样的灰度值图像P1的过程中，探测器读出电路读取某行像素阵列的响应数据的同时，干扰探测电路检测该行对应的行干扰强度数据，遍历所有行，得到M*1大小的矩阵{Cm}，作为RC，其中1≤m≤M，1≤n≤N，M和N分别为探测器像素阵列的行数和列数； 获取探测器在无干扰环境时的偏置暗场灰度值图像P2; 用P1扣除P2，得到干扰响应图像P3,干扰响应图像P3的各个像素值即为探测器的干扰响应数据SC，其中，所述灰度值图像P1和所述灰度值图像P2基于相同的探测器和或探测器参数得到； 通过K=SCRC计算得到K。

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