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欣瑞华微电子(上海)有限公司覃正才获国家专利权

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龙图腾网获悉欣瑞华微电子(上海)有限公司申请的专利一种基于抖动的降采样方法及存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120835124B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-05发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511325512.X,技术领域涉及:H04N7/01;该发明授权一种基于抖动的降采样方法及存储介质是由覃正才;刘德平;刘磊设计研发完成,并于2025-09-17向国家知识产权局提交的专利申请。

一种基于抖动的降采样方法及存储介质在说明书摘要公布了:本发明公开了基于抖动的降采样方法及存储介质,涉及图像数据处理技术领域;其包括:步骤S1:获得待降采样图像的两个方向的降采样步长;步骤S2:从两个方向中获得抖动降采样方向,获得抖动降采样偏移序列,从该序列中获得一个抖动降采样偏移量作为初始的抖动降采样偏移量;步骤S3:基于抖动降采样偏移量获得当前帧的待降采样图像中每一待降采样处理单元的降采样点,将降采样点的像素值作为降采样后的像素值,获得降采样后的当前帧的目标图像;获得下一个抖动降采样偏移量,基于新的抖动降采样偏移量获得下一帧的目标图像。通过抖动降采样等,降低了图像像素信息丢失,有效保留更多图像细节;具有计算复杂度低、易于硬件实现等优势。

本发明授权一种基于抖动的降采样方法及存储介质在权利要求书中公布了:1.一种基于抖动的降采样方法,其特征在于:包括如下步骤, 步骤S1:获得待降采样图像的第一方向的降采样步长和第二方向的降采样步长; 步骤S2:从第一方向和第二方向中获得抖动降采样方向,获得抖动降采样偏移序列,从抖动降采样偏移序列中获得一个抖动降采样偏移量作为初始的抖动降采样偏移量;将抖动降采样方向的降采样步长下取整获得候选点数,基于候选点数获得抖动降采样偏移序列{0,1,2,...,-1},抖动降采样偏移序列中的每一数据为一个抖动降采样偏移量; 步骤S3:基于抖动降采样偏移量获得当前帧的待降采样图像中每一待降采样处理单元的降采样点,将降采样点的像素值作为降采样后的像素值,获得降采样后的当前帧的目标图像;获得下一个抖动降采样偏移量作为新的抖动降采样偏移量,基于新的抖动降采样偏移量获得下一帧的目标图像;所述步骤S3具体划分包括如下步骤, 步骤S31:获得待降采样图像中第一方向的降采样基点和第二方向的降采样基点,获得当前目标图像的初始基点; 步骤S32:获得第一方向的采样点; 步骤S33:获得第二方向的采样点; 步骤S34:基于第一方向的采样点和第二方向的采样点,获得当前降采样处理单元的降采样点; 步骤S35:当前目标图像的当前像素点的像素值为当前降采样处理单元的降采样点的像素值; 步骤S36:令=,当前目标图像的下一像素点作为当前像素点,执行步骤S32,直至当前降采样处理单元水平方向上的所有待降采样处理单元处理完毕;令=0,,当前目标图像的下一行像素点的首列作为当前像素点,执行步骤S32,直至当前待降采样图像中所有待降采样处理单元处理完毕,获得降采样后的当前目标图像;读取获得用于降采样处理下一帧的待降采样图像的抖动降采样偏移量,执行步骤S31,处理下一帧待降采样图像,直至所有待降采样图像处理完毕; 在所述步骤S2中,至少有一个方向为抖动降采样方向,当第一方向为抖动降采样方向时,获得第一抖动降采样偏移序列,获得第一抖动降采样偏移量;步骤S32中,基于第一方向的降采样基点和第一抖动降采样偏移量获得第一方向的采样点,第一方向的采样点的值为,第一方向的采样点为抖动采样点; 在所述步骤S2中,当第二方向为抖动降采样方向时,获得第二抖动降采样偏移序列,获得第二抖动降采样偏移量;步骤S33中,基于第二方向的降采样基点和第二抖动降采样偏移量获得第二方向的采样点,第二方向的采样点的值为,第二方向的采样点为抖动采样点; 在所述步骤S2中,当第一方向为非抖动降采样方向时,步骤S32中,基于第一方向的降采样基点和固定点降采样方法获得第一方向的采样点,第一方向的采样点为非抖动采样点; 在所述步骤S2中,当第二方向为非抖动降采样方向时,步骤S33中,基于第二方向的降采样基点和固定点降采样方法获得第二方向的采样点,第二方向的采样点为非抖动采样点。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人欣瑞华微电子(上海)有限公司,其通讯地址为:201306 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区临港新片区环湖西二路888号C楼;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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