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龙图腾网获悉昆山福烨电子有限公司申请的专利一种厚膜电阻TCR性能测试装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120847532B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511357167.8，技术领域涉及：G01R31/00；该发明授权一种厚膜电阻TCR性能测试装置是由李俊杰设计研发完成，并于2025-09-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种厚膜电阻TCR性能测试装置在说明书摘要公布了：本发明公开了电变量测试技术领域的一种厚膜电阻TCR性能测试装置，旨在解决现有技术中改变环境温度来测量厚膜电阻TCR性能效率过低的问题。其包括用于输送载具的测试线，所述载具上搭载有厚膜电阻片，所述测试线的一侧沿测试线的输送方向布置有多个驱动组件，每个所述驱动组件的输出端均设置有驱动杆，所述驱动组件至少能够驱使驱动杆在竖直方向移动，每个所述驱动杆的下端固定安装有换热块，多个所述换热块的温度沿测试线的输送方向逐渐递增，所述换热块的上方位置还设置有调节板，所调节板上沿竖直方向滑动设置有能够贯穿换热块的探测针；本发明用于高效快速地测量厚膜电阻的TCR方面的性能，可以快速实现对厚膜电阻的表面进行控温检测，节省能源。

本发明授权一种厚膜电阻TCR性能测试装置在权利要求书中公布了：1.一种厚膜电阻TCR性能测试装置，其特征在于，包括用于输送载具2的测试线1，所述载具2上搭载有厚膜电阻片，所述测试线1的一侧沿测试线1的输送方向布置有多个驱动组件3，每个所述驱动组件3的输出端均设置有驱动杆4，所述驱动组件3至少能够驱使驱动杆4在竖直方向移动，每个所述驱动杆4的下端固定安装有换热块5，多个所述换热块5的温度沿测试线1的输送方向逐渐递增，所述换热块5的上方位置还设置有调节板6，所调节板6上沿竖直方向滑动设置有能够贯穿换热块5的探测针7，所述探测针7不少于两组，所述探测针7上固定安装有位于调节板6和换热块5之间的定位盘8，所述调节板6的底部设置有压力传感器10，所述探测针7上套设有两侧分别抵触在定位盘8和压力传感器10上的第一弹簧9； 所述换热块5根据功能性划分为制冷块以及制热块，所述制冷块以及制热块的内部分别设置有制冷介质以及制热介质，所述换热块5的表面设有温度传感器12，所述制冷块以及制热块的下方均安装有定位框13，所述定位框13的底部设置为开口且开口位置处设有弹性密封膜14，所述定位框13内填充有导热硅脂，所述制冷块、制热块、定位框13以及弹性密封膜14之间的位置均分别设有导向孔用于供探测针7穿过。

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