华芯巨数(杭州)微电子有限公司沈佳秋获国家专利权
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龙图腾网获悉华芯巨数(杭州)微电子有限公司申请的专利一种铺铜方法、设备、存储介质和产品获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120874740B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511375331.8，技术领域涉及：G06F30/392；该发明授权一种铺铜方法、设备、存储介质和产品是由沈佳秋设计研发完成，并于2025-09-25向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种铺铜方法、设备、存储介质和产品在说明书摘要公布了：本发明涉及集成电路设计技术领域，特别涉及一种铺铜方法、设备、存储介质和产品。所述铺铜方法，包括：获取铺铜区域，铺铜区域包括多个多边形对象；基于预设步长将铺铜区域划分为多个子区域；计算每个子区域中多边形对象的顶点总数，若顶点总数大于阈值，则对子区域进行递归划分，直到子区域的顶点总数小于或等于阈值，以得到顶点总数小于或等于阈值的计算区域；将每个计算区域分配给不同计算线程并行计算，得到计算区域的铺铜形状；合并所有计算区域的铺铜形状，得到铺铜区域的铺铜形状并进行铺铜处理。通过递归划分平衡计算区域的计算量，解决了现有铺铜计算的计算线程负载不均匀、铺铜效率不高的问题。
本发明授权一种铺铜方法、设备、存储介质和产品在权利要求书中公布了：1.一种铺铜方法，其特征在于，包括： 获取铺铜区域，所述铺铜区域包括多个多边形对象； 基于预设步长将所述铺铜区域划分为多个子区域； 计算每个所述子区域中所述多边形对象的顶点总数，若顶点总数大于阈值，则对所述子区域进行递归划分，直到所述子区域的顶点总数小于或等于阈值，以得到顶点总数小于或等于阈值的计算区域； 将每个所述计算区域分配给不同计算线程并行计算，得到所述计算区域的铺铜形状； 合并所有所述计算区域的铺铜形状，得到所述铺铜区域的铺铜形状并进行铺铜处理。
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