上海芯源创新中心郑伟获国家专利权
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龙图腾网获悉上海芯源创新中心申请的专利基于数学物理相结合的光器件参数测量方法、介质及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120908586B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511445738.3，技术领域涉及：G01R31/00；该发明授权基于数学物理相结合的光器件参数测量方法、介质及系统是由郑伟;杜佳乐;孙博;贺喜;叶劲飞设计研发完成，并于2025-10-10向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于数学物理相结合的光器件参数测量方法、介质及系统在说明书摘要公布了：本发明涉及一种基于数学物理相结合的光器件参数测量方法、介质及系统，涉及光电测试技术领域，其包括：建立光器件的物理场仿真模型并获得端口电磁场分布；利用波导模式正交性对所述端口电磁场进行表面积分，得到各端口的频域复振幅；依据所述频域复振幅计算散射矩阵，提取光器件参数。本发明提供的光器件参数测量方法，其提取的参数既能反映光器件的物理特性，又能通过数学算法进行精确的拟合和优化，从而提高了参数提取的准确性和效率。
本发明授权基于数学物理相结合的光器件参数测量方法、介质及系统在权利要求书中公布了：1.一种基于数学物理相结合的光器件参数测量方法，其特征在于，包括以下步骤： 建立光器件的物理场仿真模型并获得端口电磁场分布； 利用波导模式正交性对所述端口电磁场进行表面积分，得到各端口的频域复振幅； 依据所述频域复振幅计算散射矩阵，提取光器件参数； 其中，在矩形波导内选择四个相邻的横截面作为观察平面，以获得电场分量，根据波导模式的正交性，通过对观察平面上电场分量的表面积分来计算标量势，对于第1和第2个观察平面，标量势可以表示为： ， S为观察平面的截面积分区域，Exx,y,z0,t和Exx,y,z0+Δz,t分别为t时刻第1、2观测平面上的电场分量， 再通过傅里叶变换变换到频域，表示为： ， 其中Aω和Bω分别为来自激励源的入射波振幅和来自材料的反射波振幅。
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