买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉上海交通大学申请的专利基于总损耗与开关频率斜率的开关损耗测量方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120908634B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511445488.3，技术领域涉及：G01R31/26；该发明授权基于总损耗与开关频率斜率的开关损耗测量方法及系统是由马柯;卢冠宇;刘竞轩设计研发完成，并于2025-10-11向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于总损耗与开关频率斜率的开关损耗测量方法及系统在说明书摘要公布了：本发明提供了一种基于总损耗与开关频率斜率的开关损耗测量方法及系统，其中方法包括：利用继电器网络将直流电流源或直流电压源连接到被测器件的两端进行加热，获取第一参考点到第二参考点的热阻抗模型；控制被测器件运行在高频开关状态下，并流过幅值与占空比恒定的方波电流，当达到热稳态后测量第一参考点与第二参考点温度，利用第一参考点到第二参考点的热阻抗模型计算总损耗功率；多次改变开关频率进行重复实验，获取总损耗功率随开关频率变化的曲线并进行拟合，得到的曲线截距为给定测试条件下的导通损耗，斜率为给定测试条件下的开关损耗，完成开关损耗测量。本发明可以降低测量设备成本，并能集中测试多种特性参数，提高了测试效率。

本发明授权基于总损耗与开关频率斜率的开关损耗测量方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种基于总损耗与开关频率斜率的开关损耗测量方法，其特征在于，包括： 利用继电器网络将直流电流源或直流电压源连接到被测器件的两端进行加热，获取第一参考点到第二参考点的热阻抗模型； 控制所述被测器件运行在高频开关状态下，并使所述被测器件流过幅值与占空比恒定的方波电流，确定相应控制方式下运行时总损耗功率；当所述被测器件达到热稳态后测量第一参考点与第二参考点温度，利用所述第一参考点到第二参考点的热阻抗模型计算总损耗功率； 保持所述被测器件的电压、结温、电流和占空比不变，多次改变所述被测器件的开关频率重复实验，此时所述被测器件的平均开关损耗功率随开关频率成正比例变化而平均导通损耗功率不变；其中，所述被测器件的总损耗功率为平均开关损耗功率与平均导通损耗功率之和，平均开关损耗功率为单次开关产生的损耗能量与开关频率的乘积，平均导通损耗功率为导通压降、电流和占空比三者的乘积； 根据多次重复实验得到的数据，以所述被测器件的开关频率为自变量，总损耗功率为因变量，利用一次函数拟合二者关系，得到函数的截距为被测器件的平均导通损耗功率，函数的斜率为被测器件单次开关产生的损耗能量，完成开关损耗测量。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人上海交通大学，其通讯地址为：200240 上海市闵行区东川路800号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。