合肥芯碁微电子装备股份有限公司石庆林获国家专利权
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龙图腾网获悉合肥芯碁微电子装备股份有限公司申请的专利兼顾镜面反射与漫反射的激光测距装置获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223637728U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-05发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202423077269.8，技术领域涉及：G01S17/08；该实用新型兼顾镜面反射与漫反射的激光测距装置是由石庆林;张润晨;谢鹍设计研发完成，并于2024-12-13向国家知识产权局提交的专利申请。
本兼顾镜面反射与漫反射的激光测距装置在说明书摘要公布了：本实用新型公开了一种兼顾镜面反射与漫反射的激光测距装置，包括：激光器；光学切换器，所述光学切换器可拆卸地集成在所述激光器上，所述光学切换器包括多个光学部件，用于改变从所述激光器发射到待测物体表面的激光，以切换对待测物体表面的漫反射型测距与镜面反射型测距。本申请通过光学切换器的安装与否可实现对不同表面的测距，适用范围广泛，操作方便。与之适配的激光器的激光发射器集成为一体，整个测距装置体积微小，提高了在精密设备中进行安装测距的可行性。
本实用新型兼顾镜面反射与漫反射的激光测距装置在权利要求书中公布了：1.一种兼顾镜面反射与漫反射的激光测距装置，其特征在于，包括： 激光器1； 光学切换器2，所述光学切换器2可拆卸地集成在所述激光器1上，所述光学切换器2包括多个光学部件，用于改变从所述激光器1发射到待测物体表面3的激光，以切换对待测物体表面3的漫反射型测距与镜面反射型测距。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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