北京理工大学王霞获国家专利权
买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!
龙图腾网获悉北京理工大学申请的专利基于双波长TOF相机的透散射介质深度恢复方法及装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114791608B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-09发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210407000.8,技术领域涉及:G01S17/894;该发明授权基于双波长TOF相机的透散射介质深度恢复方法及装置是由王霞;张艺馨;赵雨薇设计研发完成,并于2022-04-18向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于双波长TOF相机的透散射介质深度恢复方法及装置在说明书摘要公布了:本发明提供一种基于双波长TOF相机的透散射介质深度恢复方法及装置,其中,该方法包括:获取双波长TOF相机测量的在散射环境中的目标区域和预设点的信息;确定双波长TOF相机在散射环境中的散射分量幅值比;根据所述散射分量幅值比校正对应目标区域的信息,根据校正对应目标区域的信息恢复对应所述目标区域的深度信息。解决了散射介质导致的低准确度深度测量问题。
本发明授权基于双波长TOF相机的透散射介质深度恢复方法及装置在权利要求书中公布了:1.一种基于双波长TOF相机的透散射介质深度恢复方法,其特征在于,包括: 获取双波长TOF相机测量的在散射环境中的目标区域的第一信息和第二信息,所述第一信息对应第一波长,所述第二信息对应第二波长;获取双波长TOF相机测量的在所述散射环境中的预设点的第三信息和第四信息,所述第三信息对应第一波长,所述第四信息对应第二波长,所述目标区域包括至少一个待测点;所述第一信息和所述第三信息均为第一波长下的深度测量值,所述第二信息和所述第四信息均为第二波长下的深度测量值; 根据所述第三信息和第四信息确定双波长TOF相机在散射环境中的散射分量幅值比; 根据所述散射分量幅值比校正所述第二信息,根据所述第一信息和校正后的第二信息恢复对应所述目标区域的深度信息;所述校正为:将散射分量的幅值一致化。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人北京理工大学,其通讯地址为:100081 北京市海淀区中关村南大街5号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
以上内容由龙图腾AI智能生成。
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

皖公网安备 34010402703815号
请提出您的宝贵建议,有机会获取IP积分或其他奖励