上海微谱化工技术服务有限公司张晓科获国家专利权
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龙图腾网获悉上海微谱化工技术服务有限公司申请的专利一种阳性样品微孔计量方法及其应用获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115248010B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111050213.1，技术领域涉及：G01B11/12；该发明授权一种阳性样品微孔计量方法及其应用是由张晓科;顾寒妮;秦秋明设计研发完成，并于2021-09-08向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种阳性样品微孔计量方法及其应用在说明书摘要公布了：本发明涉及G01N领域，尤其涉及一种阳性样品微孔计量方法及其应用。阳性样品微孔计量方法步骤至少包含以下几步：1正常视野下利用显微镜确定阳性样品微孔所在位置；2通过探照光头投射出光路照射微孔位置，确定孔道情况；3通过测厚仪确定样品厚度，选择合适光路，将镜头焦点距离调整至和阳性样品待测区域厚度一致，最后通过超景深3D数码显微镜进行3D扫描重建。本申请中的计量方法能够有效的对软质包装材料起到0负面影响的孔径测量，清晰的还原微孔全貌。
本发明授权一种阳性样品微孔计量方法及其应用在权利要求书中公布了：1.一种阳性样品微孔计量方法，其特征在于：步骤至少包含以下几步：1正常视野下利用显微镜确定阳性样品微孔所在位置；2通过探照光头投射出光路照射微孔位置，确定孔道情况；3通过测厚仪确定样品厚度，选择合适光路，将镜头焦点距离调整至和阳性样品待测区域厚度一致，最后通过超景深3D数码显微镜进行3D扫描重建； 所述阳性样品为CCIT阳性样品；所述阳性样品为PVC软袋； 所述探照光头结构包括主探头1以及两侧固定连接的侧面探头2；所述主探头1照射光线呈垂直往下的倒梯形状；所述侧面探头2的照射光线呈斜线型，与水平线夹角为20～80°； 当孔道情况为平滑孔时，采用同轴光或同轴侧光作为光照探头的主光源，进而对平滑孔进行3D扫描； 当孔道情况为粗糙孔时，采用环形光或环形侧光作为光照探头的主光源，进而对粗糙孔进行3D扫描； 当孔道情况为超深孔时，采用全光或混合光作为光照探头的主光源，进而对超深孔进行3D扫描。
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