TDK株式会社石川原俊夫获国家专利权
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龙图腾网获悉TDK株式会社申请的专利位置检测装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115839653B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310060650.4，技术领域涉及：G01B7/00；该发明授权位置检测装置是由石川原俊夫;守屋贵裕;大山俊彦设计研发完成，并于2020-11-06向国家知识产权局提交的专利申请。
本位置检测装置在说明书摘要公布了：位置检测装置包括磁尺和磁传感器。磁尺包含沿第1基准方向配置的多个磁体。磁传感器包含检测合成磁场的多个检测器。在将n设为磁尺的磁体的数，将M设为从第1端部到第2端部的距离，将W设为多个磁体各自的宽度，并且将W设为比0大且Mn以下，将L设为所述相对位置可变化的范围时，多个检测器各自配置成，满足0.5≤M‑W{n‑1L}≤1.5。
本发明授权位置检测装置在权利要求书中公布了：1.一种位置检测装置，其包括产生外部磁场的磁尺、检测作为所述外部磁场的一部分的对象磁场和对象磁场以外的噪声磁场的磁传感器，所述位置检测装置的特征在于： 所述磁尺包含相对于所述磁传感器的相对位置能够沿第1基准方向变化，并且沿所述第1基准方向配置的多个磁体，所述多个磁体各自具有作为所述第1基准方向的尺寸的规定的宽度，所述多个磁体中的、位于作为与所述第1基准方向平行的一个方向的第1方向的最靠前侧的磁体，具有位于该磁体的所述第1方向的前侧的第1端部，所述多个磁体中的、位于与所述第1方向相反的第2方向的最靠前侧的磁体，具有位于该磁体的所述第2方向的前侧的第2端部，所述磁传感器包含各自在远离所述磁尺的位置检测所述对象磁场与所述噪声磁场的合成磁场的多个检测器，所述多个检测器各自配置成，在设所述多个磁体的个数为n，从所述第1端部至所述第2端部的距离为M，所述多个磁体各自的所述宽度为W，并且所述W为比0大且M以下，所述相对位置可变化的范围为L时，满足0.5≤M‑W｛n‑1L｝≤1.5。
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