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龙图腾网获悉武汉大学;广东南方数码科技股份有限公司申请的专利一种用于实景三维模型的平面特征检测方法、装置及设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115880454B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211222496.8，技术领域涉及：G06T17/10；该发明授权一种用于实景三维模型的平面特征检测方法、装置及设备是由乐鹏;于大宇;梁哲恒;魏汝兰设计研发完成，并于2022-10-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于实景三维模型的平面特征检测方法、装置及设备在说明书摘要公布了：本发明公开了一种用于实景三维模型的平面特征检测方法。本发明首先将实景三维模型解析为一个基元集合，之后，综合考虑基元的空间邻近性特征、曲面特征和颜色特征构建基元异质性距离公式，并将基元局部聚类成一系列性质匀称、边界规整的簇，在簇的基础上通过欧式空间距离和余弦度量值进行平面特征提取，并使用元启发优化算法提升了方法的自动化程度。本发明可有效检测出实景三维模型中的较大平面，且具备高识别率、高效率和易产生边界规则的平面的优势，可为实景三维模型建筑物提取、对象化、数据压缩、模型简化和屋顶提取等工作提供支持。

本发明授权一种用于实景三维模型的平面特征检测方法、装置及设备在权利要求书中公布了：1.一种用于实景三维模型的平面特征检测方法，其特征在于，包括如下步骤： 步骤S1，将实景三维模型的所有瓦片拼接成一个完整的三维模型，并解析实景三维模型，将实景三维模型解析为一个几何基元集合； 步骤S2，构建基元异质性距离公式，用于评估两个基元之间的相似性； 步骤S2中用于评估两个基元之间相似性的基元异质性距离公式记为D·，综合考虑基元的空间邻近性特征、曲面特征和颜色特征进行构建，第i个基元pi和第j个基元pj之间的异质性距离公式被构建为：Dpi,pj＝μ1Dspi,pj+μ2Depi,pj+μ3Dcpi,pj，其中，Dspi,pj、Depi,pj和Dcpi,pj分别为归一化的两个基元之间的曲面特征差异距离、空间邻近性距离和颜色差异距离，μ1、μ2和μ3分别为三者对应的权重因子，三者的取值区间为[0,1]； 步骤S3，基于所述的基元异质性距离公式，构建簇的异质性代价函数并确定其约束条件，用于判断所有簇的异质性代价之和： 步骤S3中，将簇的异质性代价函数记为J·并确定其约束条件，具体为：其中若rij＝1表示基元pi可表示一个簇的中心基元，且这个簇包含了所有满足rij＝0的非中心基元；Jrij的约束条件为其中I·是一个指数函数，k表示期待的簇的个数； Dpi,pj表示第i个基元pi和第j个基元pj之间的异质性距离公式，n为基元的个数； 步骤S4，基于所述异质性代价函数及其约束条件，构建并求解能量优化函数，从而将实景三维模型过分割成一个性质均匀且边界规整的簇的集合； 步骤S5，在所述性质均匀且边界规整的簇集合的基础上，结合平面检测的阈值对簇集合进行高效地平面检测，生成一组边界规整的平面集合； 步骤S6，基于元启发算法进行平面特征检测优化，以自动寻找步骤S5中平面检测过程中的最佳阈值，获得更为理想的平面检测结果。

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