深圳中科飞测科技股份有限公司陈鲁获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳中科飞测科技股份有限公司申请的专利缺陷检测方法、产品、设备、系统及存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN117237266B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-09发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210650973.4,技术领域涉及:G06T7/00;该发明授权缺陷检测方法、产品、设备、系统及存储介质是由陈鲁;肖遥;张鹏斌;张嵩设计研发完成,并于2022-06-08向国家知识产权局提交的专利申请。
本缺陷检测方法、产品、设备、系统及存储介质在说明书摘要公布了:本申请提供一种缺陷检测方法、计算机程序产品、缺陷检测设备、检测系统及计算机可读存储介质,该方法包括:获取目标对象图像中感兴趣区域的第一位置信息;获取所述目标对象图像中疑似缺陷像素的第三位置信息,根据所述第一位置信息和所述第三位置信息,确定目标感兴趣区域,所述目标感兴趣区域为所述疑似缺陷像素所属的感兴趣区域;根据各所述目标感兴趣区域内所述疑似缺陷像素的数量及各所述目标感兴趣区域内包含的特征数量,确定各所述目标感兴趣区域对应的缺陷检测参数等级。通过上述方式,可以基于感兴趣区域内缺陷数量自适应设置缺陷检测参数的敏感度,确保检测精度的前提下提高检测效率。
本发明授权缺陷检测方法、产品、设备、系统及存储介质在权利要求书中公布了:1.一种缺陷检测方法,其特征在于,包括: 获取目标对象图像中感兴趣区域的第一位置信息; 获取所述目标对象图像中疑似缺陷像素的第三位置信息,根据所述第三位置信息和将所述目标对象图像划分形成的多个子图像的第二位置信息分别确定所述疑似缺陷像素所属的目标子图像; 根据所述目标子图像关联的所述感兴趣区域的第一位置信息,基于所述感兴趣区域内目标参考点的X轴坐标大小进行排序,形成第一数组,基于所述目标参考点的Y轴坐标大小进行排序,形成第二数组; 根据所述目标子图像中包含的所述疑似缺陷像素的所述第三位置信息,确定所述第一数组中与所述疑似缺陷像素邻近的第一目标感兴趣区域数列,以及所述第二数组中与所述疑似缺陷像素邻近的第二目标感兴趣区域数列; 将所述第一目标感兴趣区域数列和所述第二目标感兴趣区域数列中重合的感兴趣区域,确定为所述目标子图像中的目标感兴趣区域;所述目标感兴趣区域为所述疑似缺陷像素所属的感兴趣区域; 根据各所述目标感兴趣区域内所述疑似缺陷像素的数量及各所述目标感兴趣区域内包含的特征数量,确定各所述目标感兴趣区域对应的缺陷检测参数等级。
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