南亚科技股份有限公司杨吴德获国家专利权
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龙图腾网获悉南亚科技股份有限公司申请的专利测试系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114067903B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202010844297.5，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权测试系统是由杨吴德设计研发完成，并于2020-08-20向国家知识产权局提交的专利申请。
本测试系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种测试系统，用以测试待测装置，测试系统包括测试装置以及杂讯产生模块。测试装置耦接于待测装置，以形成耦接路径，并用以通过耦接路径输出测试信号至待测装置。杂讯产生模块耦接于待测装置与测试装置之间的耦接路径，并用以选择性地干扰测试信号。本发明的测试系统可在测试时率先筛选出会因为杂讯干扰而运作失效的待测装置以避免待测装置在实际应用时因为杂讯干扰失效，且还可根据待测装置在不同产品中的应用状况进行客制化的测试。
本发明授权测试系统在权利要求书中公布了：1.一种测试系统，用以测试待测装置，其特征在于，所述测试系统包括： 测试装置，耦接于所述待测装置，以形成耦接路径，并用以通过所述耦接路径输出测试信号至所述待测装置；及 杂讯产生模块，耦接于所述待测装置与所述测试装置之间的所述耦接路径，并用以选择性地反射所述测试信号的比例，以干扰所述测试信号，所述杂讯产生模块包括开关元件以及至少一个被动元件，所述开关元件与所述至少一个被动元件串联连接，所述开关元件用以导通或断开所述杂讯产生模块与所述耦接路径，所述至少一个被动元件包括电阻，所述杂讯产生模块通过改变所述电阻的电阻值来决定对于所述测试信号的干扰程度， 其中当所述开关元件为断开时，所述测试信号会直接传递至所述待测装置，当所述开关元件为导通时，所述测试信号受所述电阻反射，使得所述测试信号在电压值降低或提升后，被传递至所述待测装置。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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