西安电子科技大学陈世国获国家专利权
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龙图腾网获悉西安电子科技大学申请的专利一种多辐射源总反射辐射亮度求取方法及光线追踪方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115187717B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211032266.5，技术领域涉及：G06T15/06；该发明授权一种多辐射源总反射辐射亮度求取方法及光线追踪方法是由陈世国;薛瑞文;莫冬腊;赖康;黑圆圆;陶克勇设计研发完成，并于2022-08-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种多辐射源总反射辐射亮度求取方法及光线追踪方法在说明书摘要公布了：本发明涉及光线追踪技术领域，公开了一种多辐射源总反射辐射亮度求取方法及光线追踪方法，该多辐射源总反射辐射亮度求取方法，包括以下步骤：S1，初始化辐射源；S2，计算反射光线辐射亮度；S3，计算辐射源辐射亮度；S4，计算辐射源对反射点的张角；S5，求取总反射辐射亮度。本发明解决了现有技术存在的计算速度慢、计算复杂度高、采样光线的数量多等问题。
本发明授权一种多辐射源总反射辐射亮度求取方法及光线追踪方法在权利要求书中公布了：1.一种多辐射源总反射辐射亮度求取方法，其特征在于，包括以下步骤： S1，初始化辐射源：采集场景中的所有辐射源的自身信息； S2，计算反射光线辐射亮度：根据反射定律，计算反射光线辐射亮度L0； S3，计算辐射源辐射亮度：计算场景中各辐射源辐射亮度Li；其中，Li表示场景中第i个辐射源的辐射亮度，i表示辐射源编号，1≤i≤N且i为整数，N表示场景中辐射源总数，N≥1且N为整数； S4，计算辐射源对反射点的张角Ωi；其中，Ωi表示场景中第i个辐射源对反射点的张角； S5，求取总反射辐射亮度：基于反射光线辐射亮度L0和辐射源辐射亮度Li，求取反射点总反射辐射亮度L；求取公式为：
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