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龙图腾网获悉芯原微电子(上海)股份有限公司申请的专利标准单元库验证方法、装置、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115994514B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211666020.3，技术领域涉及：G06F30/398；该发明授权标准单元库验证方法、装置、电子设备及存储介质是由俞淑贞设计研发完成，并于2022-12-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本标准单元库验证方法、装置、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了：本申请提供一种标准单元库验证方法、装置、电子设备及存储介质，属于集成电路设计的技术领域。标准单元库验证方法，包括：获取标准单元库对应的待验证版图，标准单元库包括高度相等的N种待测试单元，待验证版图包括N个子拼接版图，N个子拼接版图中的第i个子拼接版图的第一行和第三行中，任意两个相邻的待测试单元分别为N种待测试单元中的第i种待测试单元和第i种待测试单元的镜像，第i个子拼接版图的第二行包括第i种待测试单元到第N种待测试单元，其中，每个子拼接版图的第一行、第二行和第三行在竖直方向上依次拼接，i依次取1至N，i、N为正整数；对待验证版图进行验证，得到N种待测试单元的验证结果。

本发明授权标准单元库验证方法、装置、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种标准单元库验证方法，其特征在于，包括： 获取标准单元库对应的待验证版图，所述标准单元库包括高度相等的N种待测试单元，所述待验证版图包括N个子拼接版图，N个所述子拼接版图中的第i个子拼接版图的第一行和第三行中，任意两个相邻的待测试单元分别为N种待测试单元中的第i种待测试单元和第i种待测试单元的镜像，所述第i个子拼接版图的第二行包括第i种待测试单元到第N种待测试单元，其中，每个子拼接版图的第一行、第二行和第三行在竖直方向上依次拼接，每个子拼接版图的第一行、第三行的长度大于自身第二行的长度，i依次取1至N，i、N为正整数； 对所述待验证版图进行验证，得到所述N种待测试单元的验证结果； 其中，对所述待验证版图进行验证，得到所述N种待测试单元的验证结果，包括： 对所述验证版图进行验证，得到第一子验证结果； 将每个子拼接版图中的第二行向指定方向移动一个预设步长，对移动后的所述验证版图进行验证，得到第二子验证结果，重复上述步骤，直至满足预设条件，其中，所述验证结果包括得到的所有子验证结果； 或者，对所述待验证版图进行验证，得到所述N种待测试单元的验证结果，包括： 保存当前的待验证版图； 将每个子拼接版图中的第二行向指定方向移动一个预设步长，并保存移动一个预设步长后的待验证版图，重复上述步骤，直至满足预设条件； 对保存的所有待验证版图进行验证，得到所述验证结果。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人芯原微电子(上海)股份有限公司，其通讯地址为：201203 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区春晓路289号张江大厦20A；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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