赛普拉斯半导体公司A·史密斯获国家专利权
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龙图腾网获悉赛普拉斯半导体公司申请的专利基于机器学习的天线阵列验证、原型设计和优化获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114144779B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202080053448.3，技术领域涉及：G06F30/27；该发明授权基于机器学习的天线阵列验证、原型设计和优化是由A·史密斯;K·乌内;V·西米莱斯基;Z·张设计研发完成，并于2020-06-12向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于机器学习的天线阵列验证、原型设计和优化在说明书摘要公布了：估计天线阵列的角分辨率的示例方法包括：接收用于天线阵列所包括的多个天线元件中的每个天线元件的射频RF信号的幅度和相位的多个值；通过机器学习模型执行特征提取操作，以将幅度和相位的多个值变换为降维空间中的多个数据点；通过机器学习模型将多个数据点聚类到多个聚类中；并且基于聚类的数据点来计算天线阵列的角分辨率值。
本发明授权基于机器学习的天线阵列验证、原型设计和优化在权利要求书中公布了：1.一种方法，包括： 通过处理设备接收用于天线阵列所包括的多个天线元件中的每个天线元件的射频RF信号的幅度和相位的多个值； 通过所述处理设备应用机器学习模型来执行特征提取操作，以将所述幅度和相位的多个值变换为降维空间中表示相位响应的多个数据点； 通过所述处理设备应用所述机器学习模型来将所述多个数据点聚类到多个聚类中，其中所述天线阵列的角分辨率通过聚类重叠来表征，并且每个聚类对应于所述射频RF信号的到达角AOA的值； 通过所述处理设备基于所述多个聚类来计算所述天线阵列的角分辨率值，其中，所述角分辨率值反映第一到达角AoA值与第二AoA值之差，所述第一AoA值与所述多个聚类中的第一聚类的第一聚类质心相关联，并且所述第二AoA值与所述多个聚类中的第二聚类的第二聚类质心相关联；以及 通过所述处理设备输出所述角分辨率值。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人赛普拉斯半导体公司，其通讯地址为：美国加利福尼亚州；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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