清华大学;同方威视技术股份有限公司陈志强获国家专利权
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龙图腾网获悉清华大学;同方威视技术股份有限公司申请的专利用于射线检查的成像系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114947911B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-16发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202110217737.9,技术领域涉及:A61B6/03;该发明授权用于射线检查的成像系统是由陈志强;张丽;金鑫;赵振华设计研发完成,并于2021-02-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本用于射线检查的成像系统在说明书摘要公布了:本发明涉及用于射线检查的成像系统。公开了一种用于射线检查的成像系统,包括:第一射线源组件,包括多个射线源;第二射线源组件,包括多个射线源,第一射线源组件的所有射线源的靶点都布置在第一射线源平面内,第二射线源组件的所有射线源的靶点都布置在第二射线源平面内;多个第一探测器单元,多个第一探测器单元布置在第一探测器平面内;多个第二探测器单元,多个第二探测器单元布置在第二探测器平面内;和探测器支架,多个第一探测器单元和多个第二探测器单元都安装在探测器支架上,其中,第一射线源平面、第二射线源平面、第一探测器平面与第二探测器平面沿行进方向依次分布。
本发明授权用于射线检查的成像系统在权利要求书中公布了:1.一种用于射线检查的成像系统,包括: 检查区域,其中被检查对象能够沿行进方向被传送经过所述检查区域; 第一射线源组件,包括多个射线源,所述第一射线源组件的每个射线源包括单独的壳体以限定真空空间并且包括封装在所述壳体内的多个靶点,并且所述第一射线源组件的所有射线源的靶点都布置在第一射线源平面内; 第二射线源组件,包括多个射线源,所述第二射线源组件的每个射线源包括单独的壳体以限定真空空间并且包括封装在所述壳体内的多个靶点,并且所述第二射线源组件的所有射线源的靶点都布置在第二射线源平面内; 多个第一探测器单元,用于接收从所述第一射线源组件发射并经过所述检查区域的X射线,所述多个第一探测器单元布置在第一探测器平面内; 多个第二探测器单元,用于接收从所述第二射线源组件发射并经过所述检查区域的X射线,所述多个第二探测器单元都布置在第二探测器平面内;和 单个探测器支架,所述多个第一探测器单元和所述多个第二探测器单元都安装在所述单个探测器支架上, 其中,所述第一射线源平面、所述第一探测器平面、所述第二探测器平面和所述第二射线源平面沿所述行进方向间隔布置且依次分布,并且 其中,所述第一射线源平面、所述第一探测器平面、所述第二探测器平面和所述第二射线源平面与所述行进方向基本上垂直并且彼此基本上平行。
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