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龙图腾网获悉上海闻泰信息技术有限公司申请的专利芯片失效分析方法、装置、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114626267B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210271551.6，技术领域涉及：G06F30/23；该发明授权芯片失效分析方法、装置、电子设备及存储介质是由林炜彦;肖乐设计研发完成，并于2022-03-18向国家知识产权局提交的专利申请。

本芯片失效分析方法、装置、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了：本申请实施例公开一种芯片失效分析方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：将主板的多个真实跌落姿态输入到训练完成的芯片失效分析模型；主板包括一个或多个测试芯片；通过芯片失效分析模型输出每个真实跌落姿态下各个测试芯片受到的预测应力值，并根据每个真实跌落姿态下各个测试芯片受到的预测应力值生成与每个真实跌落姿态对应的预测应力值数组；从主板中检测到一个或多个失效芯片时，根据每个失效芯片在多个真实跌落姿态分别对应的预测应力值数组中的预测应力值，确定出导致失效芯片失效的目标跌落姿态。实施本申请实施例，能够准确、高效地复现芯片的失效场景，从而实现对芯片的失效分析。

本发明授权芯片失效分析方法、装置、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种芯片失效分析方法，其特征在于，所述方法包括： 将主板的多个真实跌落姿态输入到训练完成的芯片失效分析模型；所述主板包括一个或多个测试芯片； 通过所述芯片失效分析模型输出每个所述真实跌落姿态下各个所述测试芯片受到的预测应力值，并根据每个所述真实跌落姿态下各个所述测试芯片受到的预测应力值生成与每个所述真实跌落姿态对应的预测应力值数组； 对各个所述预测应力值数组中的各个所述预测应力值按照从大到小的顺序进行排序，根据所述排序结果以及各个所述真实跌落姿态确定复现矩阵；其中，所述复现矩阵的每一行包括一个真实跌落姿态以及与所述真实跌落姿态对应的进行排序后的所述预测应力值； 当从所述主板中检测到一个或多个失效芯片时，针对每个所述失效芯片，按顺序查询所述复现矩阵包括的各个列，直至查询出第一个与所述失效芯片对应的预测应力值作为最大预测应力值；将所述最大预测应力值所在行包括的真实跌落姿态作为导致所述失效芯片失效的目标跌落状态；所述最大预测应力值是根据所述失效芯片在多个所述真实跌落姿态分别对应的预测应力值数组中的预测应力值确定出的。

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