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龙图腾网获悉杭州广立微电子股份有限公司申请的专利一种用于芯片分析的器件选择方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116087731B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211720916.5，技术领域涉及：G01R31/26；该发明授权一种用于芯片分析的器件选择方法及系统是由蓝帆;曾冉冉;潘伟伟设计研发完成，并于2022-12-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于芯片分析的器件选择方法及系统在说明书摘要公布了：本发明提供了一种用于芯片分析的器件选择方法，具体包括下述步骤：步骤S1：选取若干个等面积划分的芯片分区为目标分区，目标分区均匀地分布在芯片上；步骤S2：分别获取每个目标分区中器件的属性信息，从器件的属性信息中确定若干个属性，分别对每个目标分区中的器件基于若干个属性进行聚合，得到若干个属性组合列表；步骤S3：选择属性组合列表中共有属性中的多个属性记作公共属性组合；步骤S4：选择目标分区中满足公共属性组合的器件作为目标器件，用于片内一致性分析。相较于现有技术，本发明通过进行片内一致性分析，使得产品芯片关键器件在真实物理环境下的测试更能反映产品芯片状态，对芯片产品成品率的提升提供更有价值的信息。

本发明授权一种用于芯片分析的器件选择方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种用于芯片分析的器件选择方法，其特征在于，具体包括下述步骤： 步骤S1：选取若干个等面积划分的芯片分区为目标分区，所述目标分区均匀地分布在芯片上； 步骤S2： 分别在每个所述目标分区中选择一个或多个目标核心区域； 分别获取每个所述目标分区中器件的属性信息，从所述器件的属性信息中确定若干个属性，分别对每个所述目标分区中的器件基于所述若干个属性进行聚合，得到若干个属性组合列表；每个所述属性组合列表对应一个所述目标分区； 步骤S3：选择所述属性组合列表中共有属性中的多个属性记作公共属性组合； 步骤S4：选择所述目标分区中满足所述公共属性组合的器件作为目标器件，用于片内一致性分析，具体包括如下步骤： 步骤S41：通过数据聚合获取区域器件列表，所述区域器件列表包含信息：若干所述目标分区中的目标核心区域、若干公共属性，以及所述目标分区中的目标核心区域内满足所述公共属性的器件数量；获取满足所述公共属性组合的器件筛选指标； 通过数据聚合获取所述区域器件列表，包括：获取器件数据，包含信息：器件的公共属性组合和器件所属的目标分区中的目标核心区域；对所述器件数据进行聚合，聚合条件为器件的公共属性和器件所属的目标分区中的目标核心区域，聚合结果为器件数量；每条所述聚合结果数据用于表征在某目标分区中的目标核心区域中满足某公共属性的器件数量；完成对所述器件数据的聚合后，获得的聚合结果数据即所述区域器件列表； 步骤S42：基于筛选条件，根据所述区域器件列表筛选出目标器件； 其中，所述筛选条件包括：条件一.所述目标分区中的目标核心区域内的目标器件数量不超过预设数量；条件二.满足所述公共属性组合的目标器件的数量与所述器件筛选指标的差异最小。

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