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龙图腾网获悉北京航空航天大学申请的专利三维变形测量方法、装置、设备、介质及产品获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116124022B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211595946.8，技术领域涉及：G01B11/16；该发明授权三维变形测量方法、装置、设备、介质及产品是由王晋军;郭沁峰;徐杨设计研发完成，并于2022-12-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本三维变形测量方法、装置、设备、介质及产品在说明书摘要公布了：本申请提供一种三维变形测量方法、装置、设备、介质及产品，投影仪投影至参考平面产生的投影条纹相互平行，相机光轴垂直于参考平面，该方法包括：获取投影仪、相机、参考平面三者之间的几何关系参数、参考平面上的投影条纹数据和被测物体对应的条纹图像；所述条纹图像为相机拍摄被测物体表面的投影条纹生成；将所述投影条纹数据、几何关系参数和条纹图像输入预设光路测量模型，重构所述被测物体的三维形貌数据；根据所述三维形貌数据输出所述被测物体的三维形貌。本申请的三维变形测量方法，简化了测量光路的空间几何约束条件，降低了测量光路调节难度。不仅适用于远距离测量，对大视野、近距离测量同样适用，具有广阔的应用前景。

本发明授权三维变形测量方法、装置、设备、介质及产品在权利要求书中公布了：1.一种三维变形测量方法，其特征在于，投影仪投影至参考平面产生的投影条纹相互平行，相机光轴垂直于参考平面，所述方法包括： 以投影仪光轴与参考平面之间相交的点为坐标原点，基于参考平面建立参考坐标系；所述参考坐标系的x轴与参考平面的投影条纹方向垂直，y轴与参考平面的投影条纹方向平行，z轴垂直于参考平面；获取投影仪和相机在参考坐标系内的位置信息；根据投影仪的位置信息和相机的位置信息确定投影仪、相机、参考平面三者之间的几何关系参数；所述投影仪光轴所在平面包括所述参考坐标系的x轴和z轴； 获取参考平面上的投影条纹数据和被测物体对应的条纹图像；所述条纹图像为相机拍摄被测物体表面的投影条纹生成； 将所述投影条纹数据、几何关系参数和条纹图像输入预设光路测量模型，重构所述被测物体的三维形貌数据，其中，所述预设光路测量模型适用于所述投影仪光轴相对于所述参考平面呈任意倾斜角度、且所述相机光心在空间中任意布置的光路结构；所述预设光路测量模型中包括条纹灰度分布算法和显式映射算法，所述条纹灰度分布算法基于所述投影仪和所述相机的空间几何关系建立条纹的空间分布模型，所述显式映射算法基于几何光学原理建立条纹相位差与高度间的直接数学映射关系； 根据所述三维形貌数据输出所述被测物体的三维形貌。

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