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北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所董涛获国家专利权

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龙图腾网获悉北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所申请的专利一种基于时间交织的高频信号单粒子瞬态检测方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116203381B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-19发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202211058825.X,技术领域涉及:G01R31/28;该发明授权一种基于时间交织的高频信号单粒子瞬态检测方法是由董涛;郑宏超;李哲;武永俊;毕潇;缑纯良;张健鹏;徐雷霈;王亮;张雪设计研发完成,并于2022-08-30向国家知识产权局提交的专利申请。

一种基于时间交织的高频信号单粒子瞬态检测方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种基于时间交织的高频信号单粒子瞬态检测方法,包括:在未辐照情况下,对待测电路输出进行时间交织高速采集,得到采样值Dt,并计算得到对应时刻不含噪声的理想去噪值It和噪声值Zt;对待测电路进行辐照试验,对待测电路输出的高频信号进行时间交织高速采集,得到采样值D′t;根据采样值D′t和对应时刻的噪声值Zt,计算得到对应时刻不含噪声的实际去噪值Vt;根据Vt与对应时刻的理想去噪值It比较结果,确定对应时刻的单粒子瞬态的幅值和脉宽值;直到辐照试验结束,得到待测电路在重离子下的单粒子瞬态错误特征分布图。本发明有效提高了板级测试单粒子瞬态信号的脉宽精度和幅值精度,提高了测试的准确性。

本发明授权一种基于时间交织的高频信号单粒子瞬态检测方法在权利要求书中公布了:1.一种基于时间交织的高频信号单粒子瞬态检测方法,其特征在于,包括: 步骤1,将待测电路配置成高频模式,通过FPGA将高频动态测试码型输入到待测电路中; 步骤2,在未辐照情况下,通过FPGA控制两个模数转换器对待测电路输出的高频信号进行时间交织高速采集,得到各采样时刻的采样值Dt,并将采样值Dt按照采集时间先后顺序存入到数组中; 步骤3,根据数组中存储的各采样时刻的采样值Dt,计算得到对应时刻不含噪声的理想去噪值It和噪声值Zt; 步骤4,对待测电路进行辐照试验,通过FPGA控制两个模数转换器对待测电路输出的高频信号进行时间交织高速采集,得到各采样时刻的采样值D′t; 步骤5,根据采样值D′t和对应时刻的噪声值Zt,计算得到对应时刻不含噪声的实际去噪值Vt; 步骤6,根据实际去噪值Vt与对应时刻的理想去噪值It比较结果,确定对应时刻的单粒子瞬态的幅值和脉宽值,并存入到相应的数组中; 步骤7,循环执行步骤4~6,直到辐照试验结束,根据得到的全周期内的单粒子瞬态的幅值和脉宽值,计算得到待测电路在重离子下的单粒子瞬态错误特征分布图,利用分布图对待测电路单粒子瞬态效应进行分析和评估。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所,其通讯地址为:100076 北京市丰台区东高地四营门北路2号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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