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龙图腾网获悉中国科学院合肥物质科学研究院申请的专利一种窄带滤光片光谱空间的均匀性检测装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116735166B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310829884.0，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权一种窄带滤光片光谱空间的均匀性检测装置及方法是由韩琳;孟炳寰;程伟华;向光峰;孙亮;骆冬根;裘帧炜;洪津设计研发完成，并于2023-07-07向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种窄带滤光片光谱空间的均匀性检测装置及方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种窄带滤光片光谱空间的均匀性检测装置及方法，该装置包括积分球，参考带通滤光片、物方视场光阑、物方远心物镜、面阵CCD探测器、窄带滤光片样品安装组件、数据采集系统，其中，物方远心物镜包括前镜筒组件和后镜筒组件；窄带滤光片样品安装组件放置在前镜筒组件的物方远心光路中，CCD探测器位于物方远心镜头焦平面。本发明通过对比有窄带滤光片样品与无窄带滤光片样品两种情况下数据采集系统采集得到的光谱响应值，从而获取窄带滤光片光谱空间的均匀性。本发明装置结构简单，无需运动机构，单次检测即可获取窄带滤光片的光谱空间均匀性，检测效率高，节省了时间和人力成本，特别适用于批量化测量。

本发明授权一种窄带滤光片光谱空间的均匀性检测装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种窄带滤光片光谱空间的均匀性检测装置，其特征在于，依次包括：积分球光源1、参考窄带滤光片2、物方视场光阑3、物方远心物镜4、待测窄带滤光片样品5、待测窄带滤光片安装组件6、面阵CCD探测器7和数据采集系统8； 所述积分球光源1用于均匀照明所述物方视场光阑3；且所述物方视场光阑3安装在所述物方远心物镜4的前端； 所述物方远心物镜4依次包括：从物方到像方依次排列的前镜筒C1，第一压圈M1，第一透镜L1，第一隔圈M2，第二透镜L2，第二压圈M3，第三透镜L3，第四透镜L4，孔径光阑L5，后镜筒C2，第五透镜L6，第六透镜L7，第三压圈M4，第七透镜L8，第八透镜L9，第二隔圈M5，第九透镜L10，第四压圈M6； 所述第一透镜L1为双凸透镜，所述第二透镜L2为凸向物方的正弯月透镜，所述第三透镜L3为双凸透镜，所述第四透镜L4为双凹透镜，所述第五透镜L6为平凹透镜，所述第六透镜L7为平凸透镜，所述第七透镜L8为双凸透镜，所述第八透镜L9为凸向像方的负弯月透镜，所述第九透镜L10为双凸透镜； 其中，所述第三透镜L3和所述第四透镜L4组合为双胶合透镜，所述第五透镜L6和所述第六透镜L7组合为双胶合透镜，所述第七透镜L8和所述第八透镜L9组合为双胶合透镜； 其中，所述前镜筒C1、第一压圈M1、第一透镜L1、第一隔圈M2、第二透镜L2、第二压圈M3、第三透镜L3以及第四透镜L4组成前镜筒组件9； 所述后镜筒C2、第五透镜L6、第六透镜L7、第三压圈M4、第七透镜L8、第八透镜L9、第二隔圈M5，第九透镜L10以及第四压圈M6组成后镜筒组件10； 所述孔径光阑L5位于所述第四透镜L4和所述第五透镜L6中间； 所述待测窄带滤光片安装组件6安装于所述第一透镜L1前端位置，并处于所述物方远心物镜4的物方远心光路中；在所述待测窄带滤光片安装组件6内设置有所述待测窄带滤光片样品5； 所述后镜筒组件10的后端安装有所述面阵CCD探测器7，并通过所述物方远心物镜4上的螺纹和锁紧螺母对所述面阵CCD探测器7进行调焦和位置固定； 所述面阵CCD探测器7位于所述物方远心物镜4的焦平面； 所述积分球光源1发出的光束，经过所述参考窄带滤光片2，使得光谱带宽内的有效光线透射，照射至所述物方视场光阑3上形成光斑，所述光斑入射到所述物方远心物镜4中，并分区域照射至所述前镜筒组件9中的待测窄带滤光片样品5，再经过所述第一透镜L1、所述第二透镜L2、第三透镜L3以及第四透镜L4后形成准直光束，所述准直光束再经过所述后镜筒组件10聚焦，在所述面阵CCD探测器7上成像，并由所述数据采集系统8进行图像采集。

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