中国科学院上海微系统与信息技术研究所李伟获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院上海微系统与信息技术研究所申请的专利一种折射光学元件与超表面复合构型的光学器件获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116804776B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310521559.8，技术领域涉及：G02B3/08；该发明授权一种折射光学元件与超表面复合构型的光学器件是由李伟;周易;甘峰源;黄海阳;商祥烁设计研发完成，并于2023-05-10向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种折射光学元件与超表面复合构型的光学器件在说明书摘要公布了：本发明提供一种折射光学元件与超表面复合构型的光学器件，光学器件由折射光学元件和超表面级联构成，折射光学元件在目标工作波段内的至少一个波长上的相位分布满足光学器件的成像要求，超表面的相位分布使超表面对折射光学元件在目标工作波段内的色差进行校正，使得在目标工作波段内的不同波长下的电磁波通过光学器件后的相位分布同时满足光学器件的成像要求。本发明的光学器件将折射光学元件与超表面级联成一体，从而实现光学系统的轻量化、集成化要求，同时突破口径与带宽相互制约的瓶颈，能满足实际应用中的口径和带宽要求。
本发明授权一种折射光学元件与超表面复合构型的光学器件在权利要求书中公布了：1.一种折射光学元件与超表面复合构型的光学器件，其特征在于，所述折射光学元件与超表面复合构型的光学器件由折射光学元件和超表面级联构成，所述折射光学元件在目标工作波段内的至少一个波长上的相位分布满足光学器件的成像要求，所述超表面的相位分布设置为使超表面对折射光学元件在目标工作波段内的色差进行校正，使得在目标工作波段内的不同波长下的电磁波通过光学器件后的相位分布同时满足光学器件的成像要求； 折射光学元件具有聚焦功能，所述超表面与折射光学元件的口径的比值为0.7-0.99； 所述折射光学元件采用平凸镜的构型，满足光学器件的成像要求指的是折射光学元件以一预设焦距聚焦至焦平面； 所述超表面的相位分布为： 其中，B为第二柯西色散系数，λ0为目标工作波段的中心波长，R为平凸镜的曲率半径，r为超表面的径向坐标，c为常数。
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