Document
拖动滑块完成拼图
个人中心

预订订单
商城订单
发布专利 发布成果 人才入驻 发布商标 发布需求

请提出您的宝贵建议,有机会获取IP积分或其他奖励

投诉建议

在线咨询

联系我们

龙图腾公众号
首页 专利交易 IP管家助手 科技果 科技人才 积分商城 国际服务 商标交易 会员权益 需求市场 关于龙图腾
 /  免费注册
到顶部 到底部
清空 搜索
当前位置 : 首页 > 专利喜报 > 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所张云峰获国家专利权

中国科学院长春光学精密机械与物理研究所张云峰获国家专利权

买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!

龙图腾网获悉中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利一种同轴透射式损伤阈值自动测量系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN117249972B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-19发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310921835.X,技术领域涉及:G01M11/02;该发明授权一种同轴透射式损伤阈值自动测量系统是由张云峰;邵俊峰;王春锐;刘扬设计研发完成,并于2023-07-26向国家知识产权局提交的专利申请。

一种同轴透射式损伤阈值自动测量系统在说明书摘要公布了:本发明涉及光学测量仪器设备技术领域,特别涉及一种同轴透射式损伤阈值自动测量系统,解决现有技术中的测量时避免对强光直接测量并减少样品杂质和不均匀带来的图像处理误差,即样品杂质影响图像处理以及损伤形貌不明显导致的漏检的技术问题,具体地配置采用计算机和时序脉冲发生器自动控制CMOS相机、转轮、能量计、激光器、二位平移台并采集数据,并进行损伤阈值计算。本发明的优势在于利用透射探测光斑的强度分布分析,不仅对透射率敏感,同时能够探测激光损伤导致的不可逆相位变化;采用同轴透射光路和弱‑强‑弱模式测量方案,配合相应的计算机控制及数据采集,能够避免对强光直接测量并减少样品杂质和不均匀带来的图像处理误差。

本发明授权一种同轴透射式损伤阈值自动测量系统在权利要求书中公布了:1.一种同轴透射式损伤阈值自动测量系统,其特征在于,包括: 控制终端,所述控制终端为计算机10,所述计算机10用于控制激光器20通过一电动滤光片转轮30输出两种脉冲光; 所述两种脉冲光分别为:无法损伤样品的弱光和在损伤阈值附近的强光; 其中,无法损伤样品的弱光通过中性滤波片置于光轴上产生; 其中,在损伤阈值附近的强光通过空置的通光孔置于光轴上产生; 所述脉冲光经过一采样镜40反射出小部分光作为采样能量射入一能量计50; 所述能量计50能够通过对采样能量和主光路光束能量的标定表征入射激光的脉冲能量从而计算能量密度; 主光路光束则经过由滑块调整结构调整动作的宽谱段反射镜60和宽谱段聚焦镜70 聚焦在被测样品上从而实现对样品的损伤; 滑块调整结构能够通过所述调整动作以调整所述宽谱段反射镜60和所述宽谱段聚焦 镜70的位置; 所述样品被置于中空的二维平移台上,使得光束能够透过中空位置照射到下方的接收屏130上; 其中,所述接收屏130为白屏或者转换屏; 其中,当采用所述白屏时,用于可见激光的光斑投影; 其中,当采用所述转换屏时,用于红外激光的光斑投影; 所述二维平移台上设置有中空板121; 在一离轴方向,设置一CMOS相机110,通过控制终端控制经由时序脉冲发生器120同步控制的所述激光器20和所述CMOS相机110抓拍透射光斑,结合所述能量计50采集到的激光脉冲能量数据实时同步传输至所述计算机10上,以完成测试步骤; 所述主光路为同轴透射式光路,通过弱、强、弱三次脉冲分别实现对透射光斑的采集、样品损伤、以及损伤透射光斑的采集。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,其通讯地址为:130033 吉林省长春市东南湖大路3888号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。