买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉合肥工业大学;合肥工业大学智能制造技术研究院申请的专利一种光滑表面划痕宽度和密集度的检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117291884B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311231979.9，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种光滑表面划痕宽度和密集度的检测方法是由董敬涛;王硕;程莹钧;常凯;赵恩曦设计研发完成，并于2023-09-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种光滑表面划痕宽度和密集度的检测方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种光滑表面划痕宽度和密集度的检测方法，包括：步骤1、采集光学元件表面的暗场图像；步骤2、对暗场图像进行分块，得到预设定大小的图像块；步骤3、对图像块进行预处理后识别划痕缺陷，将非划痕区域视为黑色背景，获得仅保留划痕缺陷的图像块；步骤4、针对每条划痕分别保存为一幅单划痕图像，采用改进的划痕宽度计算方法计算单划痕图像中划痕的宽度；步骤5、拼接图像块，采用改进的划痕密集度检测算法获取拼接图像中划痕的密集度信息。本发明能使得划痕检测结果更为可靠，并能解决现有方法复杂性大的问题，从而能提高划痕检测效率。

本发明授权一种光滑表面划痕宽度和密集度的检测方法在权利要求书中公布了：1.一种光滑表面划痕宽度和密集度的检测方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤1、采集尺寸为WA×HA的光学元件表面的暗场图像IA；其中，WA、HA分别表示图像IA的宽度和高度； 步骤2、对暗场图像IA进行分块，得到M个图像块，记为其中，Pi表示所述暗场图像IA中的第i个图像块； 步骤3、预处理并识别划痕缺陷： 步骤3.1、使用灰度化和中值滤波对第i个图像块Pi进行预处理，得到预处理后的第i个图像块Pi′； 步骤3.2、对预处理后的第i个图像块Pi′进行最大类间方差阈值分割处理，得到分割图像块，再进行闭运算，得到去除空洞后的第i个图像块Pi″； 步骤3.3、对去除空洞后的第i个图像块Pi″进行连通域分析，识别出Ki条划痕其中，表示为第j条划痕；将第i个图像块Pi″中非划痕区域视为背景，其像素亮度设为0，获得仅保留Ki条划痕的图像块Qi，从而得到M张仅保留划痕的图像块 步骤4、采用改进的划痕宽度计算法计算划痕宽度： 步骤4.1、将第i个图像块Qi中第j条划痕所在的外接矩形作为一幅划痕图像 步骤4.2、计算划痕图像中划痕的最小外接矩形的长度与宽度的除法结果，若除法结果为整数，则将除法结果减去1后作为分段数否则，直接将除法结果作为分段数 步骤4.3、将最小外接矩形的长边均分为段，沿最小外接矩形的短边方向将划痕切分成段小划痕其中，表示划痕切分得到的第z段小划痕；计算第z段小划痕的最小外接矩形的宽度从而得到段小划痕的最小外接矩形的宽度并从中选取最大宽度值记为 步骤4.4、将作为腐蚀操作中的圆形结构元素的直径d，并使用所述圆形结构元素对划痕图像进行腐蚀操作，若划痕完全被腐蚀掉，则将d-1赋值给d后，返回步骤4.4操作；若划痕部分被腐蚀掉，将d+1赋值给d后，返回步骤4.4操作，直至划痕的宽度与d基本相等； 步骤5、采用改进的划痕密集度检测法获取划痕的密集度信息： 步骤5.1、将M张仅保留划痕的图像块按顺序拼接成划痕图像IB； 步骤5.2、对划痕图像IB进行连通域分析，获得U条划痕其中，s′u表示划痕图像IB的第u个连通区域，即第u条划痕； 步骤5.3、采用直径为d′的圆形结构元素对第u条划痕s′u进行形态学膨胀操作，得到第u个膨胀区域Ru，并赋予Ru权重为Gu； 利用掩膜操作从划痕图像IB复制出第u个膨胀区域Ru，并将非膨胀区域设为黑色背景，并赋予黑色背景的权重为0，得到保存第u条划痕s′u的膨胀区域Ru的图像PBu；从而得到U条划痕对应的U个膨胀区域及其相应的U幅图像 步骤5.4、将U幅图像进行叠加，并将不同图像中重叠的膨胀区域所对应的权重进行累加，从而得到一幅划痕膨胀图像IC； 统计所述划痕膨胀图像IC中权重的最大值Gmax，并将Gmax所对应的膨胀区域作为划痕密集区域R′，从而根据划痕密集区域R′得到暗场图像IA中划痕的密集度信息。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人合肥工业大学;合肥工业大学智能制造技术研究院，其通讯地址为：230009 安徽省合肥市包河区屯溪路193号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。