新华三半导体技术有限公司李美萱获国家专利权
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龙图腾网获悉新华三半导体技术有限公司申请的专利一种芯片验证装置、方法、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119420686B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411719934.0，技术领域涉及：H04L43/50；该发明授权一种芯片验证装置、方法、电子设备及存储介质是由李美萱设计研发完成，并于2024-11-27向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种芯片验证装置、方法、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了：本申请实施例提供了一种芯片验证装置、方法、电子设备及存储介质，涉及芯片技术领域，该装置包括：输入组件、输出组件和对比组件；输入组件，用于获取多个测试报文，将多个测试报文输入待测电路；输出组件，用于按照预设后级处理逻辑，生成多个测试报文对应的反馈信号，并向待测电路输入反馈信号，以使待测电路根据反馈信号对多个测试报文进行转发处理，并将处理后得到的实际报文输入输出组件；对比组件，用于在待测电路处理测试报文的过程中，采集多个测试报文中待丢弃报文的数据信息；利用数据信息，剔除多个测试报文中的待丢弃报文，得到剩余报文；对比剩余报文与实际报文，得到第一芯片验证结果。该方案能够实现丢包场景下的芯片验证。
本发明授权一种芯片验证装置、方法、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种芯片验证装置，其特征在于，所述装置包括：输入组件、输出组件和对比组件； 所述输入组件，用于获取多个测试报文，将所述多个测试报文输入待测电路； 所述输出组件，用于按照预设后级处理逻辑，生成所述多个测试报文对应的反馈信号，并向所述待测电路输入所述反馈信号，以使所述待测电路根据所述反馈信号对所述多个测试报文进行转发处理，并将处理后得到的实际报文输入所述输出组件； 所述对比组件，用于在所述待测电路处理测试报文的过程中，采集所述多个测试报文中待丢弃报文的数据信息；利用所述数据信息，剔除所述多个测试报文中的所述待丢弃报文，得到剩余报文；对比所述剩余报文与所述实际报文，得到第一芯片验证结果。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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