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龙图腾网获悉北京环境特性研究所申请的专利一种用于宽测温范围的红外热像装置及其设计方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119533669B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411705166.3，技术领域涉及：G01J5/00；该发明授权一种用于宽测温范围的红外热像装置及其设计方法是由李晓平;孙峥设计研发完成，并于2024-11-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于宽测温范围的红外热像装置及其设计方法在说明书摘要公布了：本发明涉及红外测温技术领域，特别涉及一种用于宽测温范围的红外热像装置及其设计方法。该设计方法包括在前端光学系统和后端红外探测器之间设置平均红外光谱透过率为1的全通平面镜；建立平均红外光谱透过率、辐射温度和响应总灰度之间的线性关系式；根据线性关系式确定全通平面镜响应灰度下限对应的下限温度和响应灰度上限对应的上限温度；在前端光学系统和后端红外探测器之间设计至少一个针对红外光谱的衰减平面镜；将全通平面镜对应的上限温度作为该衰减平面镜对应的下限温度，根据线性关系式计算出该衰减平面镜的平均红外光谱透过率以及该衰减平面镜对应的上限温度。本方案能够宽范围测温。

本发明授权一种用于宽测温范围的红外热像装置及其设计方法在权利要求书中公布了：1.一种用于宽测温范围的红外热像装置设计方法，其特征在于，包括： 在前端光学系统和后端红外探测器之间设置平均红外光谱透过率为1的全通平面镜； 建立平均红外光谱透过率、辐射温度和响应总灰度之间的线性关系式；其中，响应总灰度范围包括响应灰度下限和响应灰度上限； 根据所述线性关系式确定全通平面镜响应灰度下限对应的下限温度和响应灰度上限对应的上限温度； 在前端光学系统和后端红外探测器之间设计至少一个针对红外光谱的衰减平面镜； 将所述全通平面镜对应的上限温度作为该衰减平面镜对应的下限温度，根据所述线性关系式计算出该衰减平面镜的平均红外光谱透过率以及该衰减平面镜对应的上限温度； 每得到一个衰减平面镜对应的下限温度和上限温度，均执行：判断待测量最高温度是否位于该衰减平面镜对应的下限温度和上限温度之间，若否，则增加一个衰减平面镜，将所述该衰减平面镜对应的上限温度作为新增衰减平面镜对应的下限温度，根据所述线性关系式计算出新增衰减平面镜的平均红外光谱透过率以及新增衰减平面镜对应的上限温度，若是，停止增加衰减平面镜。

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