中国科学院半导体研究所李萌萌获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院半导体研究所申请的专利光通量计量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119595095B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311165236.6，技术领域涉及：G01J1/42；该发明授权光通量计量方法是由李萌萌设计研发完成，并于2023-09-11向国家知识产权局提交的专利申请。
本光通量计量方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种光通量计量方法，包括：基于被辐照区域确定待监测区域的面积信息确定所述待监测区域中的取样点；其中，取样点的数量为N，N为大于等于1的整数；在取样点处放置辐照度计；其中，辐照度计用于采集待监测区域在取样点处的辐照数据；基于辐照数据计算待监测区域的光通量及辐照度。本发明提供的光通量计量方法，根据被辐照区的待测量区域的面积大小设置取样点，实现不同距离、不同面积区域场景下光通量的灵活测量及表征，避免由于光斑不均匀或光通量不稳定而导致光通量计量不准确的问题，适用于不同时间段下的多种应用场景，以实现光通量的精确测量及表征。
本发明授权光通量计量方法在权利要求书中公布了：1.一种光通量计量方法，其特征在于，包括： 基于被辐照区的待监测区域的面积信息确定所述待监测区域中的取样点；其中，取样点的数量为N，N为大于等于1的整数； 在所述取样点处放置辐照度计；其中，所述辐照度计用于采集所述待监测区域在取样点处的辐照数据，所述辐照数据至少包括辐照度和光通量； 基于所述辐照数据计算待监测区域的光通量及辐照度； 所述基于所述辐照数据计算待监测区域的光通量，包括：获取指定时间段内的瞬时辐照数据和累计辐照数据；基于指定时间段内辐照数据的变化趋势，确定光通量的计算方法； 所述基于指定时间段内辐照数据的变化趋势，确定光通量的计算方法，包括：按照时间顺序比较瞬时辐照数据的变化趋势；在所述辐照数据变化状况小于预设变化范围的情况下，通过计算瞬时辐照数据的平均值以确定光通量；在所述瞬时辐照数据的变化状况呈上升趋势或下降趋势的情况下，以间接测量的方式计算光通量。
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