中国科学院电工研究所马衍伟获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院电工研究所申请的专利一种提高铜基超导带材性能的离子辐照方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119626660B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411813650.8，技术领域涉及：H01B12/00；该发明授权一种提高铜基超导带材性能的离子辐照方法是由马衍伟;刘宁宁;徐中堂;龚冬良;董持衡设计研发完成，并于2024-12-11向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种提高铜基超导带材性能的离子辐照方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种提高铜基超导带材性能的离子辐照方法，属于离子辐照技术领域。所述离子辐照方法包括以下步骤：在真空条件下，采用离子束对铜基超导带材进行离子辐照；所述离子束包括轻离子束或重离子束。本发明通过精确控制离子束的能量、剂量和流强，实现对铜基超导带材的有效改性，显著提升2G‑HTS带材在高温、高场下的载流性能，临界电流密度Jc提高了2.1～5倍。此外，本发明能够针对铜基超导带材的具体需求进行改性，进而提高改性效果的一致性和稳定性。
本发明授权一种提高铜基超导带材性能的离子辐照方法在权利要求书中公布了：1.一种提高铜基超导带材性能的离子辐照方法，其特征在于，包括以下步骤： 在真空条件下，采用离子束对铜基超导带材进行离子辐照；所述离子束包括轻离子束或重离子束；所述轻离子束为质子束；所述重离子束为Xe离子束；所述离子辐照的流强为1～10μA； 所述轻离子束的能量为270keV，剂量为0.1×1016～1×1016ionscm2； 所述重离子束的能量为100～200MeV，剂量为2×1010～5×1010ionscm2； 所述铜基超导带材处于离子辐照的光斑中心。
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