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龙图腾网获悉航天科工惯性技术有限公司申请的专利一种滑动式测斜仪的数据处理方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120160589B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311732997.5，技术领域涉及：G01C9/00；该发明授权一种滑动式测斜仪的数据处理方法是由万顺平;杨政;王金宁;刘宇薇;徐锐;朱强设计研发完成，并于2023-12-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种滑动式测斜仪的数据处理方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种滑动式测斜仪的数据处理方法，S10、分为若干深度段；S20、获取每个深度段的正向测量值；S30、获取每个深度段的反向测量值；S40、获取每个深度段的位移值；S50、获取测孔的测量基准；S60、重复S10‑S40进行下一测次的测量，获取每个深度段的和值；S70、获取均方差和协方差；S80、判断均方差是否小于或等于均方差阈值，若是，转至S90，否则，判断数据不可用。S90、在协方差大于或等于第一协方差阈值的情况下，测头操作正常，数据正常可用；在协方差小于或等于第二协方差阈值的情况下，正反向侧头反置，将数据对调后可用；S100、重复S60‑S90，直至完成预设测量次数。本发明能够解决滑动式测斜仪测量过程中存在正反方向侧头反置的技术问题。

本发明授权一种滑动式测斜仪的数据处理方法在权利要求书中公布了：1.一种滑动式测斜仪的数据处理方法，其特征在于，所述方法包括： S10、按照电缆标距将待测测孔的测量深度分为若干深度段； S20、将滑动式测斜仪的测头置于待测深度，并从待测深度拉起至孔口，获取每个深度段的正向测量值； S30、将滑动式测斜仪的测头旋转180°后置于待测深度，并从待测深度拉起至孔口，获取每个深度段的反向测量值； S40、基于每个深度段的正向测量值和每个深度段的反向测量值获取每个深度段的位移值； S50、将第一测次中每个深度段的位移值作为测孔的测量基准； S60、重复S10-S40进行下一测次的测量，并基于当前测次的每个深度段的正向测量值和每个深度段的反向测量值获取每个深度段的和值； S70、基于每个深度段的和值获取当前测次测孔所有深度段和值的均方差，基于当前测次中每个深度段的位移值和上一测次中每个深度段的位移值获取当前测次与上一测次位移值的协方差，其中，若上一测次的数据不可用，则将上一测次中每个深度段的位移值替换为最近一次数据可用测次中每个深度段的位移值； S80、判断当前测次测孔所有深度段和值的均方差是否小于或等于均方差阈值，若是，转至S90，否则，判断当前测次的正向测量值和反向测量值均不可用； S90、在当前测次与上一测次位移值的协方差大于或等于第一协方差阈值的情况下，当前测次测头操作正常，正向测量值和反向测量值正常可用；在当前测次与上一测次位移值的协方差小于或等于第二协方差阈值的情况下，当前测次测头操作正反向反置，将每个深度段的正向测量值和反向测量值对调后可用，其中，第一协方差阈值大于第二协方差阈值； S100、重复S60-S90，直至完成预设测量次数。

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