美光科技公司S·艾亚普利迪获国家专利权
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龙图腾网获悉美光科技公司申请的专利用于概率数据结构以进行差错跟踪的设备、系统和方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114121125B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110659090.5，技术领域涉及：G11C29/20；该发明授权用于概率数据结构以进行差错跟踪的设备、系统和方法是由S·艾亚普利迪设计研发完成，并于2021-06-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本用于概率数据结构以进行差错跟踪的设备、系统和方法在说明书摘要公布了：用于概率数据结构以进行差错跟踪的设备、系统和方法。存储器装置可以包括纠错码ECC电路，其确定从存储器阵列读取的数据是否包括差错。如果包括，将与读取的数据相关联的行地址提供给差错跟踪电路。所述差错跟踪电路可以使用概率数据结构，诸如多个计数值，每个计数值由行地址的不同散列值索引。所述计数值可以用于确定给定的行地址是否与差错重复关联。存储器可以将这些识别的问题地址存储在数据存储结构中以用于，例如，诊断和或修复的目的。
本发明授权用于概率数据结构以进行差错跟踪的设备、系统和方法在权利要求书中公布了：1.一种半导体设备，包含： 第一散列电路，其配置为接收行地址，且将经接收的所述行地址散列到包括第一数目个位的第一散列； 多个第一寄存器，其配置为存储第一组计数值； 第二散列电路，其配置为接收所述行地址，且将经接收的所述行地址散列到包括第二数目个位的第二散列，所述第二数目个位不同于所述第一数目个位； 多个第二寄存器，其配置为存储第二组计数值； 计数逻辑电路，其配置为索引基于所述第一散列而选择的经存储的所述第一组计数值中的第一计数值、索引基于所述第二散列而选择的经存储的所述第二组计数值中的第二计数值，并将所述第一计数值、所述第二计数值或其组合与阈值进行比较； 问题地址存储结构，其配置为如果所述第一计数值、所述第二计数值或其组合超过所述阈值，将所述行地址存储为经存储的问题地址。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人美光科技公司，其通讯地址为：美国爱达荷州；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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