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龙图腾网获悉北京航天测控技术有限公司申请的专利一种降低因FLASH芯片缺陷导致FPGA初始化失败概率的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114550792B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210106355.3，技术领域涉及：G11C29/00；该发明授权一种降低因FLASH芯片缺陷导致FPGA初始化失败概率的方法是由刘家玮;胡志臣;谢金源;苏前银;黄漪婧;杨立杰;殷晔;武福存;巫江涛;郑义;黄月芳;朱含设计研发完成，并于2022-01-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种降低因FLASH芯片缺陷导致FPGA初始化失败概率的方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种降低因FLASH芯片缺陷导致FPGA初始化失败概率的方法，采用此方法，可以不改变原有硬件电路的前提下，通过增加上位机软件和FPGA内部逻辑的方法，使电子设备按既定周期定时重写FLASH芯片内存储的配置数据，从而降低因FLASH芯片因时间累积导致数据失效的概率。

本发明授权一种降低因FLASH芯片缺陷导致FPGA初始化失败概率的方法在权利要求书中公布了：1.一种降低因FLASH芯片缺陷导致FPGA初始化失败概率的方法，其特征在于，包括如下步骤： S00、电子设备的功能电路、FPGA芯片以及FLASH芯片上电之后，FPGA完成初始化，上位机通过通信接口识别到电子设备并具备与FPGA芯片通信的条件； S01、上位机读取FLASH芯片烧写日志文件，并提取出最近一次烧写日期X1； S02、上位机将X1与当前实时日期X2进行比较，得到FLASH芯片上次烧写时间据现在的时间差△X＝X2-X1； S03、判断△X是否达到了预设的时间标准X，如果△X≥X，则说明该FLASH芯片需要重新加固； S04、判断是采用现有FLASH芯片中比特流配置文件还是上位机预留比特流配置文件进行加固，若采用上位机预留比特流配置文件进行加固则直接跳转到流程S06；若采用FLASH芯片中比特流配置文件进行加固执行S05； S05、采用现有FLASH芯片中比特流配置文件加固，上位机控制FPGA内部比特流文件读写控制模块将FLASH芯片中比特流配置文件读取至上位机中； S06、上位机向FPGA内部比特流文件读写控制模块发送指令，读写控制模块将上位机软件中的比特流配置文件烧写进FLASH芯片中； S07、烧写完成后，将本次加固的时间进行存储。

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