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龙图腾网获悉苏州艾方芯动自动化设备有限公司申请的专利可精确定位的测试座获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114646784B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210258461.3，技术领域涉及：G01R1/04；该发明授权可精确定位的测试座是由戴世丰;阙石男设计研发完成，并于2022-03-16向国家知识产权局提交的专利申请。

本可精确定位的测试座在说明书摘要公布了：本申请涉及晶片测试的领域，尤其是涉及一种可精确定位的测试座，其包括：测试座本体、设于该测试座本体上的浮动板、以及设于该测试座本体侧边的侧推装置；该侧推装置具有可相对于该测试座本体水平移动的侧推元件，以及对该侧推元件施加作用力的施力元件，其中，当将晶片放入该浮动板上的晶片测试部中时，借由该施力元件对该侧推元件施加的作用力使侧推元件的推掣端在侧边方向推动该晶片，进而使该晶片在晶片测试部中定位。

本发明授权可精确定位的测试座在权利要求书中公布了：1.一种可精确定位的测试座，其特征在于：包括测试座本体1，所述测试座本体1上方形成有凹部11，对应所述凹部11的所述测试座本体1的下方设有探针4；所述凹部11内设有浮动板2，所述浮动板2上形成有凹陷的晶片测试部21，所述浮动板2与所述测试座本体1之间设有弹性元件12，使所述浮动板2在垂直方向上可以弹性地移动，所述探针4由下往上穿入所述晶片测试部21底面的针孔211；还包括设置在测试座本体1一侧的侧推装置3，所述侧推装置3包含侧推元件31，滑动配合在所述测试座本体1内，使所述侧推元件31的推掣端312可水平移动地伸入或退出所述晶片测试部21；以及施力元件32，作用于所述侧推元件31，以使所述侧推元件31的所述推掣端312伸入所述晶片测试部21；其中，操作所述侧推元件31使所述推掣端312退出所述晶片测试部21的状态下将一晶片5放入所述晶片测试部21中，解除该操作时借由所述施力元件32对所述侧推元件31施予作用力，使所述侧推元件31的所述推掣端312推动所述晶片5的一侧边，进而使所述晶片5在所述晶片测试部21中定位； 所述侧推装置3还包括有固定座33，所述侧推元件31同时滑动配合于所述固定座33与所述测试座本体1，所述固定座33被固定于所述测试座本体1，所述施力元件32的第一端被固定于所述固定座33，所述施力元件32的相对第二端接触所述侧推元件31； 所述施力元件32为弹性顶针； 所述晶片测试部21的周围形成为斜面； 所述侧推元件31内开设有气道7，所述侧推元件31的所述推掣端312开设有与所述气道7连通的吹气孔6； 所述浮动板2上设有进气通道9，所述晶片测试部21的内壁上设有多个与所述进气通道9连通的连通孔8； 所述测试座本体1的侧壁上设置有检测元件10，所述检测元件10与所述进气通道9连接，对所述进气通道9内的气流进行检测。

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