华东理工大学蓝闽波获国家专利权
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龙图腾网获悉华东理工大学申请的专利一种利用扫描电化学显微镜(SECM)检测不可逆电穿孔程度的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115420911B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210871152.3，技术领域涉及：G01Q60/60；该发明授权一种利用扫描电化学显微镜(SECM)检测不可逆电穿孔程度的方法是由蓝闽波;潘巨敏;赵红莉;高陈程设计研发完成，并于2022-07-22向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种利用扫描电化学显微镜(SECM)检测不可逆电穿孔程度的方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种利用扫描电化学显微镜SECM检测不可逆电穿孔程度的方法，其通过对脉冲电场刺激后的细胞的膜通透性Pm进行测定，实现细胞电穿孔程度的快速高效检测。该方法先测定出SECM探针对细胞的逼近曲线，再将逼近曲线换算成细胞膜通透性来完成对电穿孔程度的测定，并通过已有的检测方法测定细胞的存活率曲线，将Pm值与细胞存活率建立关系，来验证细胞膜通透性能完成不可逆电穿孔的检测，发现细胞膜通透性随脉冲电压变化的规律与细胞存活率在脉冲电压变化时的规律几乎一致，因此利用SECM测定细胞的电穿孔程度的方法是有效可靠的。
本发明授权一种利用扫描电化学显微镜(SECM)检测不可逆电穿孔程度的方法在权利要求书中公布了：1.一种利用扫描电化学显微镜SECM检测不可逆电穿孔程度的方法，其特征在于，能够特异性地针对细胞的膜通透性，对脉冲电场刺激后的细胞进行电穿孔程度测定，具体包括如下步骤： 细胞培养到一定细胞密度后，用高压脉冲发生器对细胞进行不可逆电穿孔消融，消融结束后不用更换培养皿，直接将细胞培养液换成氧化还原介质，再用扫描电化学显微镜对细胞进行探针逼近，测定出SECM探针对细胞的逼近曲线，然后将细胞探针逼近曲线与模拟出来的标准探针逼近曲线相对应，换算成细胞膜通透性Pm值来完成对电穿孔程度的测定； 所述逼近曲线是针尖电流与细胞距离的关系曲线。
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