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龙图腾网获悉江南大学申请的专利一种高分辨率x射线编码孔径成像装置和成像方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115950902B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310108630.X，技术领域涉及：G01N23/04；该发明授权一种高分辨率x射线编码孔径成像装置和成像方法是由蒋志龙;孟思齐;张舒珊设计研发完成，并于2023-02-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种高分辨率x射线编码孔径成像装置和成像方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种高分辨率x射线编码孔径成像装置和成像方法，属于短波长成像技术领域。本发明的高分辨率x射线编码孔径成像装置基于圆孔孔径变换，通过连续改变电控圆孔光阑的孔径尺寸得到光通量提升的多幅强度点扩散函数图像和对应的模糊强度图像，本发明的高分辨率x射线编码孔径成像方法是在维纳滤波重构方法的基础上，采用迭代反卷积方法对记录的多幅强度点扩散函数图像和对应的多幅模糊图像在频域进行迭代重建，从而得到高分辨率重构的待测样品图像，不仅可以提高x射线编码孔径成像装置的光通量，且相比于单幅重建方式可以大幅度提升成像分辨率。

本发明授权一种高分辨率x射线编码孔径成像装置和成像方法在权利要求书中公布了：1.一种x射线编码孔径成像装置，其特征在于，所述装置包括：x射线源1，沿所述x射线源1发出的x射线方向依次放置夹持器2，电控圆孔光阑3和x射线成像探测器4； 所述夹持器2用于放置微孔和待测样品；所述电控圆孔光阑3的孔径大小由软件控制调整，用作编码孔径，所述x射线成像探测器4用于记录x射线通过所述微孔或待测样品、所述电控圆孔光阑3后的光斑； 所述装置的成像过程包括： 步骤一：将所述微孔固定在夹持器2上，打开所述x射线源1，使得x射线通过所述微孔和电控圆孔光阑3，所述电控圆孔光阑3的圆孔半径为R0； 当所述电控圆孔光阑3的圆孔半径以R0+ΔR*n等间距变大时，所述x射线成像探测器4记录对应的强度点扩散函数图像，标记为hx,y；nn＝1,2,3…，其中n为电控圆孔光阑半径变化的次数，ΔR为一距离常数； 步骤二：关闭所述x射线源1，将所述微孔替换成所述待测样品固定在所述夹持器2上，再次打开所述x射线源1，使得x射线通过所述待测样品和电控圆孔光阑3，所述电控圆孔光阑3的圆孔半径为R0； 当所述电控圆孔光阑3的圆孔半径以R0+ΔR*n等间距变大时，所述x射线成像探测器4记录对应的模糊强度图像，标记为Ix,y；nn＝1,2,3…； 步骤三：对所述强度点扩散函数图像hx,y；n和模糊强度图像Ix,y；n进行傅里叶变换，Hu,v；n＝F{hx,y；n}，Iu,v；n＝F{Ix,y；n}，其中F{}为傅里叶变换运算符，Hu,v；n为强度点扩散函数图像hx,y；n进行傅里叶变换后的频谱，Iu,v；n为模糊强度图像Ix,y；n进行傅里叶变换后的频谱； 步骤四：猜测一个随机的物体频谱分布Ogu,v；n，则猜测的模糊强度图像的频谱Igu,v；n表示为Igu,v；n＝Ogu,v；nHu,v；n； 步骤五：所述猜测的模糊强度图像的频谱Iu,v；n与实际记录的模糊强度图像的频谱Iu,v；n之间的差值为detIu,v；n＝Iu,v；n-Iu,v；n； 步骤六：对猜测的物体频谱分布进行更新，得到： 其中，*表示为共轭运算符号； 步骤七：将更新后的猜测频谱值O'u,v；n赋值给Ou,v；n，得到更新的物体频谱分布； 步骤八：计算猜测的物体频谱分布在更新后的误差，得到 设定一个误差阈值ε，当ε＜ε时认为猜测的物体频谱分布O'u,v；k和真实的物体频谱Ou,v接近，对O'u,v；k进行傅里叶逆变换即可得到重建的高分辨率物体分布o'x,y＝F-1{O''u,v；k}，其中F-1{}为傅里叶逆变换运算符，k≤n；否则，跳转至步骤四，重复步骤四到步骤七的计算过程，直到所有强度点扩散函数图像和模糊强度图像都用于计算得到物体频谱为O'u,v；n，对O'u,v；n进行逆傅里叶变换得到重建的待成像物体分布o'x,y＝F-1{O''u,v；n}。

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